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品 管 七 大 手 法 講 解 ;一.七大手法簡介:;二.品管七大手法所體現的精神:;三.特性要因圖:;作法:;兩類特性要因圖:;模具定位不穩定;2.追求對策型:;四.柏拉圖:;作法:;柏拉圖的用途:;柏拉圖應用範圍:;柏拉圖實例:;五.層別法:;實例一:;實例二:;某電子廠有批精密零件在下工程裝配時發生困難,經直方圖分析,超出規格甚多,再將此100個數據,按A,B,C三種機種別加以層別,發現A機種的產品低於規格下限的很多,而C機種的產品超出規格上限的很多,B機種的產品完全在規格內.因此,只要針對A,C兩機種著手改善即可.;六.查檢表:;查檢表的種類:;2.點檢用查檢表:
主要功用是為要確認作業實施、機械設備的實施
情形,或為預防發生不良或事故,確保安全時使用.這種
點檢表可以防止遺漏或疏忽造成缺失的產生.
把非作不可、非檢查不可的工作或項目,按點檢順
序列出,逐一點檢並???錄之.;實例:;收集數據應注意的事項:;七.散布圖:;散布圖的判讀:;3.強負相關:
X增大時,Y反而減小,稱為強負相關.
;5.曲線相關:
X開始增大時,Y也隨之增大,但達到某一值后,當X增大
時,Y卻減小.;散布圖判讀注意事項:; SPC --- Statistical Process Control.
統計制程管制.
☆ 由制程調查來改進制程能力,不斷降低產
品品質變異性,而提升產品品質的一種方法.
☆ 七十年代風行於日本,以至於仍有不少日
本人至今仍深信其功效,而抵觸ISO9000的導入.
☆ 它的主要工具為管制圖.
;質量有兩大特性:;管制圖與直方圖的區別: ;八.直方圖:;附表:;D.決定組距: 組距=全距/組數 46/12=4.
E.決定各組之上下組界.
1.最小一組的下組界=最小值-測定值之最小位數/2
124-1/2 = 123.5.
2.最小一組的上組界=下組界+組距=123.5+4=127.5
依此類推.
F.作次數分配表.(如附表);組 號;2.製作直方圖:畫出短形方塊及規格的上限及下限.(如附表);直方圖常見的形態:
1.正常型:(如附圖);4.絕壁型:(如附圖);6.离島型:(如附圖);直方圖的應用:;三個重要指標:;B.精密度Cp(Capability of precision)
Cp= =;C.精確度Cpk(制程能力指數):
Cpk=(1-Ca )*Cp= 或 之最小值;制程能力指數判定表:;2.計算產品不良率:; ±Kr;3.調查是否混入兩個以上不同群體:
兩個不同操作者,兩台不同機器,兩種不同材料,兩條不同生
產線者.
4.測知有無假數據:有無因測定誤差或檢查錯誤導致之假數
據(鋸齒型、离島型).
5.測知分配型態,了解制程有無異常.
6.藉以訂定規格界限:如為常態分布,一般來說,X+4S為規
格上限,X-4S為規格下限.;7.與規格或標準值比較:
A.合乎規格:
a.理態型:(附圖)
;b.一側無余裕:(附圖);c.兩側無余裕:(附圖);d. 余裕太多:(附圖);B. 不合乎規格:
a.平均值偏左:(如附圖);b.分散度過大:(如附圖);c.完全在規格外:(如附圖);8.改善前后的比較:;30;6r-PPM制程介紹:;附圖:;九.管制圖:;管制圖與常態分配:;影響數據分布的原因有﹕;解決變差的特殊原因通常采取局部措施﹕;使用控制圖前提條件﹕;使用控制圖的准備﹕;4.確定測量系統﹕
測量工具和方法必須保証產生准確和精密的結果.;量具重復性和再現性(%RR)可接受條件﹕;重復性(設備變差)﹕EV=R K1
再現性(試驗人員變差)﹕AV= (X K2) -EV /nr
n-----零件數量. r-----試驗次數.
RR= (EV) +AV
零件變差PV=Rp K3
總變差
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