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ISO/TS 16949系列之SPC培训 专业 求实 严谨 诚信 Statistical Process control 统计过程控制 第一章 SPC概述 SPC的产生 工业革命以后， 随着生产力的进一步发展，大规模生产的形成，如何控制大批量产品质量成为一个突出问题，单纯依靠事后检验的质量控制方法已不能适应当时经济发展的要求，必须改进质量管理方式。于是，英、美等国开始着手研究用统计方法代替事后检验的质量控制方法。 1924年，美国的休哈特博士提出将3Sigma原理运用于生产过程当中，并发表了著名的“控制图法”，对过程变量进行控制，为统计质量管理奠定了理论和方法基础。 SPC的基本概念 术语 统计过程控制（Statistical Process Control） 使用诸如控制图等统计技术来分析过程或其输出以便采取适当的措施达到并保持统计控制状态从而提高过程能力。 统计控制（Statistical Control） 描述一个过程的状态，这个过程中所有的特殊原因变差都已排除，并且仅存在普通原因。即：观察到的变差可归咎于恒定系统的偶然原因；在控制图上表现为不存在超出控制限的点或在控制限范围内不存在非随机性图形。 普通原因（Common Cause） 造成变差的一个原因，它影响被研究过程输出的所有单值；在控制图分析中，它表现为随机过程变差的一部分。 特殊原因（Special Cause） 一种间断性的，不可预计的，不稳定的变差根源。有时被称为原因，存在它的信号是：存在超过控制子的点或存在控制限之内的链或其它非随机性的图形。 计量型数据（Variables Data） 定量的数据，可用测量值来分析，例如：轴承的直径、关门所用的力，或审查一张收据所用的时间等。计量型控制图常用X-R图，X-S图、单移—动极差X-R图来进行分析。 计数型数据（Attributes Data） 可以用来记录和分析的定性数据，例如：要求的标签出现，所有要求的紧固件安装，经费报告中不出现错误等特性量即为计数型数据的例子。其他的例子如一些本来就可测量只是其结果用简单的“是/否”的形式来记录，例如：用通过/不通过量规来检验一根轴的直径的可接受性，或一张图样上任何设计更改的出现。计数型数据通常以不合格品或不合格的形式收集，它们通过p、np、c和u控制图来分析。 控制图（Control Limit） 控制图上的一条线（或几条线），作为制定一个过程是否稳定的基础。如有超出了控制极限变差存在，则证明过程受特殊因素的影响。控制限是通过过程数据计算出来的，不要与工程的技术规范相混淆。 单值（Individual） 一个单个的产品或一个特性的一次测量，通常用符号X表示。 过程均值（Process Average） 一个特定过程特性的测量值分布的位置即为过程平均值，通常用X来表示。 平均值（Mean） 一组测量值的均值。 中位数（Median） ~ 将一组测量值从小到大排列后，中间的值即为中位数。如果数据库的个数为偶数，一般将中间两个数的平均值作为中位数。子组中位数是构成简单的有关过程位置的控制图的基础。中位数加波浪号（~）的符号表示；如X就是一分组的中位数。 ~ 标准差（Standard Deviation） 过程输出的分布宽度或从过程中统计抽样值（例如：子组均值）的分布宽度的量度，用希腊字母σ或字母s（用于样本标准差）表示。 极差（Range） 一个子组、样本或总体中最大与最小值之差。 移动极差（Moving Range） 两个或多个连续样本值中最大值与最小值之差，这种差是按这样方式计算的：每当得到一个额外的数据点时，就在样本中加上这个新的点，同时删除其中时间上“最老的”点，然后计算与这点有关的极差，因此每个极差的计算至少与前一个极差的计算共用一个点的值。一般说来，移动极差用于单值控制图，并且通常用两点（连续的点）来计算移动极差。 σ（Singmaσ） 用于代表标准差的希腊字母。 变差（Variation） 过程的单个输出之间不可避免的差别；变差的原因可分成两类：普通原因和特殊原因。 ——固有变差（Inherent Variation） 仅由普通原因造成的过程变差，由6σR/d2来估计： ——总变差（Total Variation） 由于普通和特殊两个原因造成的变差，用σs估计。 过度调整是把每全个偏离目标的值当作过程中特殊原因处理的方法。 链（Run） 控制图上一系列连续上升或下降，或中中心线之上或之下的点。它是分析是否存在造成变差的特殊原因的依据。 正态分布（Normal Distribution） 一种用于计量型数据的、连续的、对称的钟形频率分布，它是计量型数据用控制图的基础。当一