贵金属检测用X射线荧光光谱仪专利技术分析.docVIP

青春由磨砺而出彩，人生因奋斗而升华！ 眼里有不朽的光芒 心里有永恒的希望 贵金属检测用X射线荧光光谱仪专利技术分析 摘 要：贵金属因其价值高，对测量精度要求较高，X射线荧光光谱技术作为一种无损检测技术，检出限在μg/g量级范围内，特别适合用来检测样品中贵金属元素的组成和含量，已经成为贵金属分析领域中的主要检测手段。文章旨在对适用于贵金属检测的XRF专利申请进行分析;理清其技术发展脉络，合理预期其未来发展趋势，供相关研究人员和企业参考。 关键词：X射线荧光光谱;贵金属;无损检测，专利技术 中图分类号：T-18 文献标志码：A 文章编号：2095-2945（2019）15-0018-02 Abstract： Precious metals require high measurement accuracy because of their high value. as a nondestructive testing technique， X-ray fluorescence spectroscopy （XRF） is especially suitable for the determination of the composition and content of precious metal elements in samples because of its detection limit in the range of μg/g. It has become the main detection method in the field of precious metal analysis. The purpose of this paper is to analyze the XRF patent application suitable for precious metal detection， clarify its technical development context， and reasonably expect its future development trend for the reference of relevant researchers and enterprises. Keywords： X-ray fluorescence spectroscopy; precious metals; nondestructive testing; patented technology 1 概述 X射线荧光光谱分析作为一种较为成熟的元素分析技术，具有简单快速，准确度高，精密度好，多元素同时测定等特点，且X射线荧光光谱仪的发展经历了几十年，从第一台波长色散型X射线荧光光谱仪的产生，到ED-XRF和WD-XRF合为一体的仪器的问世，其在结构和功能上都有了很大改进，使得XRF在地质、矿石、冶金、考古、贵金属检测等领域得到了广泛应用[1-2]。在贵金属检测方面，由于X射线荧光光谱法测定贵金属操作快捷、自动化程度高，已经成为贵金属分析领域中主要的检测手段。而为了适应各种不同形态、不同性质的贵金属的检测，X荧光光谱仪也经历了结构从简单到复杂，分析速度从慢到快，分析精度从低到高的发展。纵观X射线荧光光谱仪在贵金属检测方面的一系列发展，其主要改进点在于如何改进激发方式和激发源以适应贵金属检测的特殊需求，进而提高贵金属检测的精度。 2 专利技术发展路线 X荧光光谱仪自1946年7月19日Herbert.Friendman申请的第一篇专利（US684908）获得授权之后（授权专利号US2449066，授权日1948年9月14日），开始进入公众的视野，该篇专利中系统的介绍了扫描型波长色散X射线荧光光谱仪的原理和结构。RESEARCH 公司于1954年8月4日提出了能量色散型X射线荧光光谱仪（US2928944）。虽然能量色散型XRF弥补了扫描型波长色散XRF的部分缺点，但是，能量色散XRF需要具有能量分辨能力的能量探测器，对当时的技术来说，并没有高分辨力的能量探测器，因此，这又带来了探测精度的问题。为了利用波长色散X射线荧光光谱仪的分辨率优势，又能简化装置结构，BIRKS JR LA VERNE S于1955年2月23日提出了多道波长色散型XRF光谱仪（US2842670），该仪器在分光系统分光后使用多通道探测器同时获得多个波长的信息，可同时获得多元素信息，不需要扫描结构，快速简便。 在X射线荧光光谱仪出现后，其迅速在各种科研和工业领域得到了广泛的应用。在其发展前期，主要还是应用基本的波长色散型XRF和能量色散型XRF。在贵金属检测领域，使用最多的也是能量色散X射线荧光光谱仪，例如，使用EDXRF测量金涂层厚度