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参数扫描分析 参数扫描分析 参数扫描分析 参数扫描分析 PAGE # 参数扫描分析 概述：在基本电路特性分析中，每个元器 件的参数都取确定值，而在参数扫描和统 计分析中，将考虑由于参数变化引起的电路 特性变化情况。因此具有下述两个特点： 这种分析一定与某种基本电路特性 分析结合在一起进行。 分析过程中对变化参数的每一个取 值都要进行一次基本特性分析，整个过程 涉及多次电路特性分析。 参数扫描分析和统计分析从不同角度考虑参数变化的影响，产生了 4 参数扫描分析和统计分析 从不同角度考虑参数变化的影响，产生了 4种分 析类型。 温度的影响 参数变化的影响 参数统计变化对电路特影响 的两种统计分析技术 ti 温度扫描分析(Temperature Sweep) ii 参数扫描分析(Parametric Analysis) “ ii 蒙托卡诺分析(MC:Monte-Carlo Analysis) 最坏情况分析(WC:Worst-Case Analysis) 财以类型分组及每组包含的功能 Bias Point DC Sweep |AC Sweep/Noise Time Domain ACNOISETRAN AC NOISE TRAN FOUR TF SENS Temperature (Sweep) Save Bias Point Load Bias Point Parametric Sweep Monte Carlo/Worst Case pa。温度扫描分析II只需指定在哪几个温度下分析电路的哪种基本特性。 pa。 温度扫描分析 II只需指定在哪几个温度下分析电路的哪种基本特性。 PSpice中的各个元器件模型都考 虑了模型参数与温度的关系。进 行电路特十生分析时， PSpice的内定温度为27摄氏 度。 在每一个温度下，首先按元器件 模型计算该温度下电路中的元器 件参数值，然后进行指定的电路 特性分析。 温度扫描分析(Temoerature Sweep) ii例：差分对电路的交流小信号温度特性 Fr?)ucinicg 以温度为变量进行DC分析”与在以电压源作为变量进行DC 分析的基础上再进行温度扫描”的结果有什么区别？ 温度分析是在不同温度下分析 参数扫描分析Parametric SWeep电路特性的变化，具体地说是 参数扫描分析的含义：分析电路中某某些参数变化引起电路ACTRAN这种基本特性的变化情况。其分析参数设置形式C 温度分析是在不同温度下分析 参数扫描分析Parametric SWeep电路特性的变化，具体地说是 参数扫描分析的含义： 分析电路中某某些参数变化引起电路AC TRAN这种基本特性的变化情况。 其分析参数设置形式C分析相同 A4*A | Induk Hu | IIMli | SkrdLE | Qptan | CuUlCdKtin | 1 s r—阿护I 0Q ( 1 3 Neris wrtT [Masiji 在用户指定的每个温度下均进行一次电 路基本特性分析。 参数扫描分析的作用类似，对指定的每 个参数变化值，均执行一次电路分析， 不过在参数扫描分析中，可变化的参数 从温度一种扩展为独立电压源，独立 电流源，温度，模型参数和全局参数。 温度分析的任务也可以通过参数扫描分 析来完成。 参数扫描分析在电路优化设计 方面有重要的作用，将其与Probe的电 路设计性能分析功 能结合在一起，可用于优化确定 元器件参数设计值。 DC分析是一种关于电路直流偏置 状态的基本电路特性分析，而参 数扫描分析是使电路中的某一参 数发生变化，然后对每一个变化 值重复进行基本电路特性分析， 也可以包括DC分析，因此，不能 将同一个参 数既指定为参数扫描 分析中的变化参数，同时又指定 为DC分析中的自变量或参变量。 参数扫描分析（Parametric Sweep） 例i 例i罰时茂变电阻和只匸2的阻值?弄分刈电暗的腹宰特料樹如何夷优? 参数扫描分析(Parametric Sweep) 参数扫描分析(Parametric Sweep) PARAM 位于 Specail 库中。 在电路分析中参数Rval的取值 将决定电路中每个（Rval}的数 值,因此称为全局参数。 Global parametef全局参数）的含义与设置 参数扫描分析中，若采用PARAMEIE符号设置参数,同时考虑多个元 器件的参数变化对电路特性的影响，这种参数称为全局参数- II参数扫描分析设置步骤（以差分対电路中RC和RC2同时变化为例）： （1 ）将两个电阻值改为带有大括号的参数 ?仏皿 例如（Rval}- ⑵在电路中放置一个名称为PARA的符号。连击该符号，调出元器件参 数编辑器，按NeW按钮，新增设?项属性参数Rval（必须与上述参数 名称相同），并将其值设置为一