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X射线荧光光谱仪 ;主要配置： LiF、Ge、PET、TAP、SX-52及SX-98N 6块分光晶体；FPC、SC检测器；液体样品盒；微区刻度尺 主要性能指标： 1、检测元素范围：4Be-92U 2、元素含量范围：0.0001%-100% 3、最大扫描速度：300°/min;主要用途： 1、测量块状、粉末、薄膜和液态材料的元素种类及含量，并建立工作曲线。 2、对矿石样品进行局部分析。 3、通过元素含量分析涂层、薄膜厚度。 主要优点： 分析迅速、样品前处理简单、可分析元素范围广、谱线简单，光谱干扰少 ; 基础知识简介;什么是仪器分析？;;仪器分析方法的分类;什么是光谱：光谱是一系列有规律排布的光。如雨后的彩虹。;;光分析法：光学分析法是根据物质吸收、发射、散射电磁波或电磁波与物质作用而建立起来的一类分析方法。光学分析法可归纳为以下两大类：;光分析法;什么是光谱分析？;X射线荧光分析; X射线荧光光谱仪的分类 ??? 1. 根据分光方式的不同，X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类， 缩写为EDXRF和WDXRF。 ??? ??? 2. 根据激发方式的不同，X射线荧光分析仪可分为源激发和管激发两种 ;波长色散与能量色散分辨率的比较;波长色散X射线光谱仪分类; 3.多道加扫描道型: 在多道同时型仪器上加扫描道,既有多道同时型的优点,又有灵活的优点. 4.扫描型仪器加固定道: 在扫描型仪器上加2-4个固定道.部分减少了扫描型仪器的慢速、稳定性差的缺点,但是基本构造没有改变,真空室很大,配备固定道后检测距离加大，灵敏度降低，故障率偏高。;扫描型与同时型的比较; X射线及X射线荧光; X射线荧光分析基本原理 X射线管发出一次X射线（高能）,照射样品，激发其中的化学元素,发出二次X射线,也叫X射线荧光,其波长是相应元素的标识－－特征波长(定性分析基础);依据谱线强度与元素含量的比例关系进行定量分析.; 荧光分析的样品有效厚度一般为≤0.1mm。 （金属≤0.1ｍｍ；树脂≤3ｍｍ） ▲有效厚度并非初级线束穿透的深度，而是由分析线能够射出的深度决定的！;XRF－1800结构概念图示;顺序型单道扫描XRF系统配置;多道同时型XRF仪器结构;;;X射线及X射线荧光;原子的壳层结构;特征X射线;荧光X射线;X射线的产生;X射线管的结构;初级X射线的产生;连续光谱;不同靶的连续谱图;布拉格公式：; 当X射线入射到物质中时，其中一部分会被物质原子散射到各个方向。当被照射的物质为晶体时，且原子层的间距与照射X射线波长有相同数量级，在某种条件下，散射的X射线会得到加强，显示衍射现象。 当晶面距离为d，入射和反射X射线波长为λ时，相临两个晶面反射出的两个波，其光程差为2dsinθ，当该光程差为X射线入射波长的整数倍时，反射出的x射线相位一致，强度增强，为其他值时，强度互相抵消而减弱。 满足2dsinθ=nλ时，衍射线在出射角θ方向产生衍射，从而达到分光的目的。; 相干散射线的干涉现象； ? 相等，相位差固定，方向同， n? 中n不同，产生干涉 ;X射线荧光光谱仪 X-ray fluorescence spectrometer;全固态检测器;仪器结构和微区分析系统 专利];;滤光片;初级滤光器(光源滤光片);次级滤光片（检测器滤光片） ;滤光片的原理与使用;对标样的依赖性;工作曲线法;;什么是FP法;基体效应;矿物效应和粒度效应;试样的组成及元素间的影响;样品的制备及样品与标样的一致性; 理想待测试样应满足的条件： 1.有足够的代表性（因为荧光分析样品的有效厚度一般只有10～100μｍ） 2.试样均匀。 3.表面平整、光洁、无裂纹。 4.试样在Ｘ射线照射及真空条件下应该稳定、不变型、不引起化学变化。 5.组织结构一致!; 样品的基本展示形态： 1.固体：铸块类；板、陶瓷、玻璃类；橡皮、木材、纸类 2.小零件类 3.粉末及压块 　 4.液体和溶液 5.支撑式样品：薄膜和镀层 6.熔融产物; 常用的制样方法 1.金属块状样品和其它块状材料： 浇铸---切割---磨光或抛光或车制 要求：1、块状大小合适 2、有合适的平面且平整、光洁、 无裂纹、无气孔 3、表面干净无污染; 2.粉末样品压片法： 一些脆性材料，如矿石、水泥、陶瓷、耐火材料、渣、部分合金可以制成粉末样品。一般是以粒度200目以上为平均指