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测量系统分析(MSA);课程大纲;目的;测量系统的评定;测量系统;名词解释;名词解释;名词解释;名词解释;名词解释;名词解释;名词解释;为什麽要做MSA;产生测量变差的原因;测量系统实施的时机;测量系统开发检查表建议的要素;测量系统开发检查表建议的要素;测量系统开发检查表建议的要素;测量系统开发检查表建议的要素;测量系统开发检查表建议的要素;测量系统开发检查表建议的要素;测量系统开发检查表建议的要素;测量系统开发检查表建议的要素;测量系统开发检查表建议的要素;测量系统开发检查表建议的要素;测量系统开发检查表建议的要素;Bias (偏倚);实施方法;实施方法;实施方法;实施方法;偏倚案例;测量数据;判定;造成过分偏倚的可能原因是：;造成过分偏倚的可能原因是：;稳定性;实施方法;实施方法;案例;不稳定性可能的原因包括：;不稳定性可能的原因包括：;线性;实施方法;实施方法;实施方法;实施方法;案例;案例;案例;案例;线性误差的可能原因包括：;重复性;重复性不好的可能原因包括：;再现性 ;再现性错误的潜在原因包括：;再现性错误的潜在原因包括：;量具RR或GRR;计量型量具研究方法;极差法;极差法;;6）当零件数量很大或同时多个零件不可同时获得时，测量步骤 4，5可能改变如下是需要的：;;数字计算; 重复性或设备变差（EV或σE）由平均极差R乘以常数出。K1取决于量具研究中试验的次数，等于d2*的倒数，d2*可以从附录C中查到。d2*取决于试验的次数(m)和零件的数量乘以评价人数（g）（假设计算K1值时g大于15）。 再现性或评价人变差（AV或σA）由评价人均值的最大差异（XDIFF）乘以常数K2决定。K2取决于量个研究中使用评价人的数量并且是d2*的倒数，d2*可以从附录C中查到。d2*取决于评价人的数量（m）和g=1，因为只计算一个极差。由于评价人的变差包含设备变差，所以需要减去设备变差因素。因此评价人的变差（AV）可以计算为如下：; AV = √（XDIFF×K2） － 这里，n=零件数，r=试验次数 如果平方根下的值为负，评价人的变差（AV）默认为0。 由重复性和再现性得到的测量系统变差（GRR或σM）可以通过求设备和评价人变差的平方和再开方得到。 R R = √（EV） +（AV）;; TV = PV = √（TV）－（GRR） 1、这两个值(TV和PV)可以替代前面计算的值。 2、一旦确定了量个研究的每个因素的变异性,就可以与过程总变差（TV）进行比较。这个步骤的完成可以通过量具报告表（表25）右侧的“%总变差”下面的计算得到。 3、设备变差（%EV）占总变差（TV）的百分比为100[EV/TV]。其他因素占总变差的百分比可以类似地计算如下： %AV = 100[AV/TV] %GRR= 100[GRR/TV] %PV= 100[PV/TV];计数型测量系统分析; （1）指定为可接受判断，（0）为不可接受判断。表12中的基准判断和计量基准值不预告确定。表的“代码”列还用“-”、“+”、“X”显示了零件是否在第III，II，I区域。 假设检验分析- 交叉表方法 由于小组不知道零件的基准判断值，他们开发了交叉表比较每个评价人之间的差异。;Pr（不合格\ 判不合格）= Pr（不合格 判不合格）= Pr（不合格\ 判不合格）= ;测量问题分析;识别问题 ;测量系统研究的准备;测量系统研究的准备;6）确保测量方法（如评价人和仪器）正测量特性的尺寸并遵守规定的测量程序。 1、测量应按照随机顺序31，以确保整个研究过程中产生的任何漂移或变化将随机分布。评价人不应知道哪个被编号的零件正在被检查，以避免可能的认识偏倚。但是进行研究的人应知道正在检查哪一零件，并相应记下数据，即评价人A，零件1，第一次试验；评价人B，零件4，第二次试验等。 2、在设备读数中，测量值应记录到仪器分辨率的实际限度。机械装置必须读到和记录到最小的刻度单位。对于电子读数，测量计划必须为记录所显示的最右有效数位建立一个通用的原则。模拟装置应记录到最小刻度的一半或灵敏度和分辨力的极限。对于模拟装置，如果最小刻度为0.0001”,则测量结果应记录到0.00005”。 3、研究工作应由了解进行可靠研究的重要性的人员进行管理和观察。;谢谢大家!;9、要学生做的事，教职员躬亲共做；要学生学的知识，教职员躬亲共学；要学生守的规则，教职员躬亲共守。7月-217月-21Wednesday, July 21, 2021 10、阅读一切好书如同和过去最杰出的人谈话。17:10:4317:10:4317:107/21/2021 5:10:43 P