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- 2021-08-01 发布于湖北
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离子束抛光玻璃微观结构分析
陈美艳 沈丽如
核工业西南物理研究院
一 、概述 及 背 景 :
研 究背景 :光 学器 件及 微 电子 器 件 的粗 糙 表面 会 引起信 号 的
散射 。超 光 滑 表 面加 工 极大 的推 动 了光 学加工 技 术 的发 展 。
原子量级去除
抛光 过程 :高 能 离子 物 理溅 射
优 点 :离 子 束 抛光 具有 良好 的各 向异 性 ,对器 件 低 损伤 和 可
控性 好等 特 点 ,使之 成 为制 作 高质量 表 面 的理 想手 段
主要 影 响参 数 :
离 子 能 量 、 离 子 束 流 密 度 、离 子 束 入射 角 、抛 光 时 间 、
样 品与离 子 源 距 离
表 面 粗 糙 度 表 征 : 表 面 粗 糙 度 通 常 用 均 方 根
(root-mean-square rms)表 示
(1)轮 廓 仪 测 试过 程 中用 表 面 粗糙 度 高度参 数 Rq 表 征 :
n
2
Rq = ( Ni N 0 ) (1)
i
240 360-1
N :相对 零 点高度 ,N 平均 高度 ;
i 0
(2) A FM 测 试过 程 中 Rrms 的定 义为 :
1/2
2
Z (2)
R ={ 1/ N * 1/ N * ∑∑ ij }
rms x y
(2 )
表 面 波 度 表 征 : 高 分 辨 率 激 光 轮 廓 仪 检 测 过 程 中不 进 行 滤
波 , 能 真 实 反 映 包 括 波 度 在 内 的 样 品 表 面 形 貌
石英 :400 eV 0.75mA / cm2 35°
图 2 中 的横 向间 隔 约 30nm 的大 而
浅 痕迹 离子 束抛 光 法 去 除 比较 困 图2 离子束抛光 2 h后样品 AFM
图1离子束抛光前样品 AFM
0 .5 nmRMS
5~ 10 nmRMS
难
石英 :400 eV 0.75mA / cm2 35°
图 2 中的横 向间隔约30nm的大 而浅 痕迹 离子束抛 光法 去 除 比较 困难
二、结果讨论:
(1)先用高能量和大束流( 800eV/100mA/60 °)的离子束
对样品抛光再用低能量小束流 (400eV/80mA/ 60°) 离子束对
样品抛光后得到的样品表面粗糙度最为理想 (0.3nm rms) 。
(2)通过实验和模拟总结出 40 °到 60 °之间入射角抛光
效果最佳而在接近平行入射时基本上起不到抛光效果。
800eV 100mA 60 °5h
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