SPC统计过程管制教材.pptxVIP

Statistical Process Control ;講議大綱;一、SPC 產生過程; A.計量值管制圖 a.平均值与全距管制圖(X-R Chart) b.中位值与全距管制圖(X-R Chart) c.個別值与移動全距管制圖(X-Rm Chart) d.平均值与標准差管制圖(X-R Chart) B.計數值管制圖 a.不良率管制圖 b.不良數管制圖 c.缺點數管制圖 d.單位缺點數管制圖;平均值與極差管制圖 ( X ─ R );(1)建立管制圖之步驟 a:選定管制項目 b:收集數據 C:按產品生產之順序或測定順序排列數據 d:數據之分組 sample=2~5, group=20~25 e:將分組之數據紀錄數據記錄表 f:計算平均值X bar g:計算全距 R ; h:計算總平均值 X I:計算全距之平均值 R j:查係數A2, D4, D3( 表 12-2 ) k:計算管制界限 l:繪管制界限 m:點圖 n:管制界限之檢討 (1)全界限內並隨機分佈-直接建立管制用管制圖 (2)有點超出規格-調查消除並重新計算管制界限; (3)有點超出原因不明或已查出但無法消除這些點無須 除去. (4)重新計算管制界線後仍有點超出新管制界,無須去除. O.畫直方圖 p.與規格比較 (1)(USL-