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典型全控型器件;门极可关断晶闸管——在晶闸管问世后不久出现。
20世纪80年代以来,信息电子技术与电力电子技术在各自发展的基础上相结合——高频化、全控型、采用集成电路制造工艺的电力电子器件,从而将电力电子技术又带入了一个崭新时代。
典型代表——门极可关断晶闸管、电力晶体管、电力场效应晶体管、绝缘栅双极晶体管。;门极可关断晶闸管;1. GTO的结构和工作原理
结构:
与普通晶闸管的相同点: PNPN四层半导体结构,外部引出阳极、阴极和门极。
和普通晶闸管的不同点:GTO是一种多元的功率集成器件,内部包含数十个甚至数百个共阳极的小GTO元,这些GTO元的阴极和门极则在器件内部并联在一起。;工作原理:
与普通晶闸管一样,可以用图1-7所示的双晶体管模型来分析。 ;GTO能够通过门极关断的原因是其与普通晶闸管有如下区别:;由上述分析我们可以得到以下结论:
GTO导通过程与普通晶闸管一样,只是导通时饱和程度较浅。
GTO关断过程:强烈正反馈——门极加负脉冲即从门极抽出电流,则Ib2减小,使IK和Ic2减小,Ic2的减小又使 IA和Ic1减小,又进一步减小V2的基极电流。当IA和IK的减小使?1+?21时,器件退出饱和而关断。
多元集成结构还使GTO比普通晶闸管开通过程快,承受di/dt能力强 。;2. GTO的动态特性
开通过程:与普通晶闸管类似,需经过延迟时间td和上升时间tr。;关断过程:与普通晶闸管有所不同
抽取饱和导通时储存的大量载流子——储存时间ts,使等效晶体管退出饱和。
等效晶体管从饱和区退至放大区,阳极电流逐渐减小——下降时间tf 。
残存载流子复合——尾部时间tt 。
通常tf比ts小得多,而tt比ts要长。
门极负脉冲电流幅值越大,前沿越陡,抽走储存载流子的速度越快,ts越短。
门极负脉冲的后沿缓慢衰减,在tt阶段仍保持适当负电压,则可缩短尾部时间 。;3. GTO的主要参数;最大可关断阳极电流IATO;术语用法:
电力晶体管(Giant Transistor——GTR,直译为巨型晶体管)
耐高电压、大电流的双极结型晶体管(Bipolar Junction Transistor——BJT),英文有时候也称为Power BJT。
在电力电子技术的范围内,GTR与BJT这两个名称等效。
??应用
20世纪80年代以来,在中、小功率范围内取代晶闸管,但目前又大多被IGBT和电力MOSFET取代。;1. GTR的结构和工作原理;在应用中,GTR一般采用共发射极接法。
集电极电流ic与基极电流ib之比为
(1-9)
? ——GTR的电流放大系数,反映了基极电流对集电极电流的控制能力
当考虑到集电极和发射极间的漏电流Iceo时,ic和ib的关系为 ic=? ib +Iceo (1-10)
产品说明书中通常给直流电流增益hFE——在直流工作情况下集电极电流与基极电流之比。一般可认为??hFE 。
单管GTR的? 值比小功率的晶体管小得多,通常为10左右,采用达林顿接法可有效增大电流增益。; 2. GTR的基本特性
(1)? 静态特性
共发射极接法时的典型输出特性:截止区、放大区和饱和区。
在电力电子电路中GTR工作在开关状态,即工作在截止区或饱和区
在开关过程中,即在截止区和饱和区之间过渡时,要经过放大区。; (2)? 动态特性
开通过程
延迟时间td和上升时间tr,二者之和为开通时间ton。
td主要是由发射结势垒电容和集电结势垒电容充电产生的。增大ib的幅值并增大dib/dt,可缩短延迟时间,同时可缩短上升时间,从而加快开通过程 。;关断过程
储存时间ts和下降时间tf,二者之和为关断时间toff 。
ts是用来除去饱和导通时储存在基区的载流子的,是关断时间的主要部分。
减小导通时的饱和深度以减小储存的载流子,或者增大基极抽取负电流Ib2的幅值和负偏压,可缩短储存时间,从而加快关断速度。
负面作用是会使集电极和发射极间的饱和导通压降Uces增加,从而增大通态损耗。
GTR的开关时间在几微秒以内,比晶闸管和GTO都短很多 。; 3. GTR的主要参数
前已述及:电流放大倍数?、直流电流增益hFE、集射极间漏电流Iceo、集射极间饱和压降Uces、开通时间ton和关断时间toff (此外还有):
1)??最高工作电压
GTR上电压超过规定值时会发生击穿
击穿电压不仅和晶体管本身特性有关,还与外电路接法有关。
BUcbo BUcex BUces BUcer Buceo
实际使用时,为确保安全,最高工作电压要比BUceo低得多
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