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Asynchronous Data Output
Data can be output from a die (LUN) if it is in a READY state. Data output is supported following a READ operation from the NAND Flash array. Data is output from the cache register of the selected die (LUN) to DQ[7:0] on the falling edge of RE# when CE# is LOW, ALE is LOW, CLE is LOW, and WE# is HIGH.
If the host controller is using a rRC of 30ns or greater, the host can latch the data on the rising edge of RE# (see Figure 22 for proper timing). If the host controller is using a lRC of less than 30ns, the host can latch the data on the next falling edge of RE# (see Figure 23 (page 33) for extended data output (EDO) timing).
Using the READ STATUS ENHANCED (78h) command prevents data contention following an interleaved die (multi-LUN) operation. After issuing the READ STATUS ENHANCED (78h) command, to enable data output, issue the READ MODE (OOh) command.
Data output requests are typically ignored by a die (LUN) that is busy (RDY = 0); however, it is possible to output data from the status register even when a die (LUN) is busy by first issuing the READ STATUS (70h) or READ STATUS ENHANCED (78h) command.
Figure 22: Asynchronous Data Output Cycles
PC28F00AM29EWLD产品详细规格
包装 64Fortified BGA 电池类型NOR
密度1 Gb
建筑 Sectored 块组织 Symmetrical 位置引导块Bottom|Top 典型工作电源电压3|3.3 V
扇区大小 128Kbyte X 1024 支持页面模式Yes
走时类型Asynchronous
工作温度?40to85°C 地址总线宽度21/20 Bit
接口类型Parallel
页面大小16/32 Words
标准包装Trays
安装 Surface Mount 包装竞度11
包装长度13
PCB 64
地址总线宽度21/20
密度1G
典型工作电源电压
欧盟RoHS指令 Compliant
字数 128M/64M
最低工作温度-40
供给商封装形式Fortified BGA 标准包装名称BGA 最有工作温度85
羯程电压
Figure 13: Device Organization for Two-Die Package (BGA)
Async
CE#
CLE-1
ALE-1
WE#-1
RE#-1 DQ[7:0]-1 N/A
WP#-1
CE2#
CLE-2
ALE-2
WE#-2
RE#-2 DQ[7:0]-2 N/A WP#-2
Sync
CE#
CLE
ALE
CLK
W/R#
DQ[7:0]
DQS
WP#
CE2#
CLE-2
ALE-2
Package
Target 1
LUN 1
Target 2
LUN 1
CLK-2
W/R#-2
WP#-2
DQ[7:0]-2
DQS-2
a R/B#
a R/B2#
产品种类:
NOR闪存
□
安装风格:
SMD/SMT
□
封装/箱体:
BGA-64
□
系列:
M29EW
□
存储容量:
1 Gbit
□
电源电压最小:
2.7 V
□
电源电压最大:
3.6 V
□
有源读取电流(最大值):
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