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2021年原子力显微镜实验报告
2021年原子力显微镜实验报告
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2021年原子力显微镜实验报告
原子力显微镜应用技术
一、 试验目
1了解原子力显微镜工作原理
2掌握用原子力显微镜进行表面观察方法
二、 试验原理
AFM工作原理
在原子力显微镜系统中, 可分成三个部分: 力检测部分、 位置检测部分、 反馈系统。关键工作原理以下图:
(2) AFM工作模式
AFM 有三种不一样工作模式: 接触模式( contact mode) 、 非接触模式(noncontact mode) 和共振模式或轻敲模式(Tapping Mode) 。
本试验采取轻敲模式: 样品扫描时, 针尖一直一样品“接触”, 即针尖-样品距离在小于零点多个纳米斥力区域。此模式通常产生稳定、 高分辨图像。当沿着样品扫描时, 因为表面高低起伏使得针尖-样品距离发生改变, 引发它们之间作用力改变, 从而使悬臂形变发生改变。当激光束照射到微悬臂后面, 再反射到位置灵敏光电检测器时, 检测器不一样象限会接收到同悬臂形变量成一定百分比关系激光强度差值。反馈回路依据检测器信号与预置值差值, 不停调整针尖一样品距离, 而且保持针尖一样品作用力不变, 就能够得到表面形貌像。
三、 试验仪器及试剂
试剂及材料: 石墨烯溶液, 云母片
仪器: nanoscope?5.31r
四、 步骤
依次按下面步骤开启试验仪器:
1.开机: 先开电脑 再开主控制器
2.打开程序: Nanoscope:
3. 安装样品: 用双面胶带将云母片粘到圆形铁片上, 再将其放置到样品台上。调整中部拨钮UP控制样品台降低到样品上表面低于样品台两侧圆球。
4. 安装探针: 用镊子小心将探针安装到HOLDER中。
5. 安装HOLDER 调整样品台后面旋钮, 把HOLDER固定紧;
调整拨钮DOWN使样品台尽可能靠近探针针尖;
6. 调整激光至针尖: 调整样品台上方两个旋钮, 并观察下方屏幕, 将激光调至针尖处, 同时屏幕SUM值最大; 调整样品台后面横型旋钮, 用于控制样品室中反射镜子, 调整旋钮使屏幕上SUM值最大; 调整样品台上面和后面两个旋钮, 使屏幕上VERT和HORZ均为0左右; 将光敏检测器旋至最小; 将左边拨钮拨至on;
7. 开始测试: 控制面板左上:
(1)TUNE: 弹出对话框, 点击下方Auto Tune自动调整, 完成以后, 点击Exit退出。
(2)下针: 弹出表单, 表单消失后, 自动开始扫描SCAN
(3) Capture : Capture file name, 弹出对话框, 对图像命名, 并选择保留路径。
测试结束后, X-offset和Y-offset归零; Scan Size归零 Scan angle归零
(4)WITHDRAW: 抬针,
五、 试验测量结果:
(1)云母片表面形貌
二维表面形貌:
从扫描图能够看出, 云母片上有很多小得球状粒子, 可能是用透明胶剥离云母片表面时没剥离完全, 上次测样品还有残留。
(2)石墨烯二维平面图
从图中能够看到石墨烯呈片状, 云母表面较平整, 不过噪声比较大。
六、 试验注意事项
1、 预防针尖损坏: AFM 针尖是整个仪器最脆弱部分, 一碰即断, 所以应该预防一切物体与针尖直接接触。试验过程中针尖轻易损坏步骤关键有两个, 一是安装针尖时候, 二是进针时候。
2、 在装样品时维持样品表面清洁, 不然测量图不清楚。
2、 在试验过程中, 桌面震动会是扫描图形出现一条缝。因为试验采取是接触模式, 周围环境震动会影响图形测量结果, 所以开始扫描后尽可能保持试验桌稳定, 不然会过大震动会破坏图形。
七, 试验思索
(1)AFM探测到原子力由哪两种关键成份组成?
一个是吸引力即范德瓦耳斯力; 另外一个是电子云重合而引发排斥相互作用。
(2)怎样使用AFM, 才能很好地保护探针?
仔细调整接触距离, 粗调时, 不要让指针压迫样品, 保持1mm, 扫描过程中确保探针不产生破坏性形变。
(3)原子力显微镜有哪些应用?
原子力显微镜能够用于研究金属和半导体表面形貌、 表面重构、 表面电子态及动态过程,超导体表面结构和电子态层状材料中电荷密度等。
另外原子力显微镜在摩擦学中有很多应用, 如纳米摩擦、 纳米润滑、 纳米磨损、 纳米摩擦化学反应和机电纳米表面加工等。
在生物上, 原子显微镜能够用来硕士物宏观分子, 甚至活生物组织。观察细胞等等。
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