时钟的抖动测量与分析.pdfVIP

时钟的抖动测量与分析 和分解时钟的抖动可以分为随机抖动（ Random Jitter ，简称 Rj ）和固有抖 动（ Deterministic jitter ），随机抖动的来源为热噪声、 Shot Noise 和 Flick Noise ，与电子器件和半导体器件的电子和空穴特性有关，比如 ECL 工艺的 PLL 比 TTL 和 CMOS 工艺的 PLL 有更小的随机抖动；固定抖动的来源为：开 关电源噪声、串扰、电磁干扰等等，与电路的设计有关，可以通过优化设计来 改善，比如选择合适的电源滤波方案、合理的 PCB 布局和布线。和串行数据的 抖动分解很相似，时钟的抖动可以分为 Dj 和 Rj 。但不同的是，时钟的固有抖 动中通常只有周期性抖动（ Pj），不包括码间干扰（ ISI ）。当时钟的上下边沿都 用来锁存数据时占空比时钟（ DCD ）计入固有抖动，否则不算固有抖动。时钟 抖动测量方法在上个世纪 90 年代，抖动的测量方法非常简单 ,示波器触发到时 钟的一个上升沿，使用余辉模式，测量下一个上升沿余辉在判定电平上（通常 为幅度的 50 ％）的水平宽度。测量水平宽度有两种方法。第一种使用游标测量 波形边沿余辉的宽度，如下图 4 所示。由于像素偏差或屏幕分辨率 (量化误差 ) 会降低精度，而且引入了触发抖动，所以这种方法误差较大。 第二种使用直 方图，对边沿余辉的水平方向进行直方图统计，如下图 5 所示。测量直方图的 最左边到最右边的间距即为抖动的峰峰值（ 168 皮秒）。这种方法的缺点是：引 入了示波器的触发抖动；一次只测量一个周期，测试效率低，某些出现频率低 的抖动在短时间内不能测量到。 随着测试仪器技术的发展与进步，目前，示波器的抖动分析软件不再是测量 一两个周期波形后分析抖动，而是一次测量多个连续比特位，计算与统计所有 比特位的抖动，测量的数据量非常大、效率非常高。如下图 6 所示为某 50MHz 时钟的 Period 抖动测试，示波器的抖动测试软件可以一次测量所有周期的周期