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FP标准具实验讲义 FP标准具实验讲义 PAGE PAGE13 FP标准具实验讲义 PAGE YCB型 F-P标准具特点研究及高正确度波长测定仪 实 验 讲 义 长春禹衡时代光电科技有限企业 本企业经过ISO9001：2008质量管理系统认证 目 录 一、实验目的 1 二、实验仪器和用具 . 1 三、实验原理及仪器结构 1 四、实验步骤 5 五、注意事项 10 1 一、实验目的 1、认识并掌握F-P标准具干涉圆环的调治； 2、F-P标准具特点研究： （1）测量自由光谱区； （2）计算干涉条纹细度； （3）绘制干涉环直径的平方与气压的关系曲线。 3、利用小数重合法三波长正确测 F-P标准具的间隔； 4、由F-P标准具间隔的厚度定未知谱线波长； 5、与塞曼效应实验仪配合使用，正确测量磁场强度 B，研究电磁 铁的I-B关系。 二、实验仪器和用具 YCB型F-P标准具特点研究及高正确度波长测定仪，塞曼效应实验仪（第5项实验用）。 三、实验原理及仪器结构 1、实验原理 ★小数重合法求解 ε的二次方程 图1 仪器原理表示图 如图1所示，光源1与光源2发出的光分别经反射镜透射与反射 1 后合为一组光，合光经透镜1后变为平行光，一部分光谱经滤光片后被滤掉，某一波长为λ的漫射单色光经间隔为d的F-P标准具后， 在成像物镜的焦面上形成直径为Di的一系列同心圆环，这就是我们所要获得的干涉圆环。设圆环Di对应的F-P标准具出射光束与对称轴的夹角为θi,它与Di的关系为： cos2i (1 Di2/(4f2))1。 设在干涉图样中由内向外第一个亮环的干涉级次为正整数 k0，直 径为Di的亮环对应级次依次为ki=k0+i（i=-1,-2,-3），圆环中心D=0地方对应的干涉级次为k0+ε=2d/λ，ε为正小数，可得： Di 2 －１ ki 2 2 k0 i (1) 1 整理后可得： 2 i i2 i3 2 4f 2 2 k0 1 2k0 1 k0 (2) 2 3 4 一般有 /k0 1及-i/k01，文件中仅给出保留到一阶小量的近似 式，关于现代平时的仪器条件及本质测量要求，宜给出保留到 (i/k0)2 项的近似式： 8f 2 2 12f2 2 2 8f2 i2 (3) Di 1 1 i 21 k0 2k0 k0 k0 k0 k0 关于多个已知波长λj(j=1,2,3)，计算出对应干涉圆环级次的小数部分εj。诚然级次整数部分k0j还没有确知，但其为必然范围内的正整 数。对选定的合适波长用小数重合法可求出满足下式的标准具间隔 d： dj k0j ij j (4) 2 ★准直线模型的加权回归 为简化计算，引入新变量i* 1 1.5i i，式中k0 取k0的近似估计值。 k0 由于修正项的误差影响是高阶小量，i*仍可看作是误差为0的“正确值”。式(3)可改写为： 2 28f2 8f2 2 i (5) Di 1 1 11.5 ib0b1i* k0 2k0 k0 k0 k0 第一找到同一波长下的内外侧各三组同心圆环，在每个圆环上分 别采集8组点位坐标，利用我们仪器配套的专用程序中圆回归方法得 到直径Di及其标准误差sDi，进而算出Di 2和标准差sDi2 2DisDi。获得以 i*为自变量、以Di 2为因变量的准直线方程。标准差sDi2 不相等，须作 2 加权回归。因变量的权因子取 wi sDi2 ，对式(5)两边分别乘以wi， 可得以wiDi 2为等精美度因变量、以 wi和i*wi为两个新自变量的截 距为零的方程： wiDi 2 b0wi b1 i* wi (6) 由截距斜率之比b0 1 1.5 ，可求出干涉级次中的小数部分 b1 k0 b0 1 1.5 b0/b1 (7) b1 k0 加权回归分别获得 b0、b1 及它们之间的相关系数rb0,b1，则ε的A 类不确定度sε,A为： s,A sb0b1 2 2 sb0 sb1 sb0 sb1 (8) b0b1 b0 2rb0b1 b0 b1 b1 关于Di2的B类不确定度，文件中指出条纹中心点的瞄准误差限 取为条纹宽度的 10%。关于必然细度F的F-P标准具，条纹全宽度对 应的波数差a为自由光谱区δν的2/F倍，δν对应的半径差近似取相邻 级次条纹平均间距 ri-ri+1≈(Di-1-Di+1)/4。则条纹的细度为：F=2δν/a，若 只考虑条纹中心点的瞄准误差限，可得相应直径平方 Di2的B类不确 定度重量为： U2 2DUiD,2Di10% 2Di 1Di1 D, i F 4 i 0.05D2 D i1 2 i F (9) 3 ★干涉级次小数εj的求解过程 由千分尺或测量显微镜测出F-P标准具内间隔圈的厚度d0，求出 四组波长λj的整数级次k0j的近似估计值k0j 。利用式(6)，加权拟合求 得b0,j和b1