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FP标准具实验讲义
FP标准具实验讲义
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FP标准具实验讲义
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YCB型
F-P标准具特点研究及高正确度波长测定仪
实 验 讲 义
长春禹衡时代光电科技有限企业
本企业经过ISO9001:2008质量管理系统认证
目 录
一、实验目的 1
二、实验仪器和用具 . 1
三、实验原理及仪器结构 1
四、实验步骤 5
五、注意事项 10
1
一、实验目的
1、认识并掌握F-P标准具干涉圆环的调治;
2、F-P标准具特点研究:
(1)测量自由光谱区;
(2)计算干涉条纹细度;
(3)绘制干涉环直径的平方与气压的关系曲线。
3、利用小数重合法三波长正确测 F-P标准具的间隔;
4、由F-P标准具间隔的厚度定未知谱线波长;
5、与塞曼效应实验仪配合使用,正确测量磁场强度 B,研究电磁
铁的I-B关系。
二、实验仪器和用具
YCB型F-P标准具特点研究及高正确度波长测定仪,塞曼效应实验仪(第5项实验用)。
三、实验原理及仪器结构
1、实验原理
★小数重合法求解 ε的二次方程
图1 仪器原理表示图
如图1所示,光源1与光源2发出的光分别经反射镜透射与反射
1
后合为一组光,合光经透镜1后变为平行光,一部分光谱经滤光片后被滤掉,某一波长为λ的漫射单色光经间隔为d的F-P标准具后,
在成像物镜的焦面上形成直径为Di的一系列同心圆环,这就是我们所要获得的干涉圆环。设圆环Di对应的F-P标准具出射光束与对称轴的夹角为θi,它与Di的关系为:
cos2i (1 Di2/(4f2))1。
设在干涉图样中由内向外第一个亮环的干涉级次为正整数 k0,直
径为Di的亮环对应级次依次为ki=k0+i(i=-1,-2,-3),圆环中心D=0地方对应的干涉级次为k0+ε=2d/λ,ε为正小数,可得:
Di
2
-1
ki
2
2
k0
i
(1)
1
整理后可得:
2
i
i2
i3
2
4f
2
2
k0
1
2k0
1
k0
(2)
2
3
4
一般有 /k0 1及-i/k01,文件中仅给出保留到一阶小量的近似
式,关于现代平时的仪器条件及本质测量要求,宜给出保留到 (i/k0)2
项的近似式:
8f
2
2
12f2
2
2
8f2
i2
(3)
Di
1
1
i
21
k0
2k0
k0
k0
k0
k0
关于多个已知波长λj(j=1,2,3),计算出对应干涉圆环级次的小数部分εj。诚然级次整数部分k0j还没有确知,但其为必然范围内的正整
数。对选定的合适波长用小数重合法可求出满足下式的标准具间隔 d:
dj
k0j
ij
j
(4)
2
★准直线模型的加权回归
为简化计算,引入新变量i*
1
1.5i
i,式中k0
取k0的近似估计值。
k0
由于修正项的误差影响是高阶小量,i*仍可看作是误差为0的“正确值”。式(3)可改写为:
2
28f2
8f2
2
i
(5)
Di
1
1
11.5
ib0b1i*
k0
2k0
k0
k0
k0
第一找到同一波长下的内外侧各三组同心圆环,在每个圆环上分
别采集8组点位坐标,利用我们仪器配套的专用程序中圆回归方法得
到直径Di及其标准误差sDi,进而算出Di
2和标准差sDi2
2DisDi。获得以
i*为自变量、以Di
2为因变量的准直线方程。标准差sDi2
不相等,须作
2
加权回归。因变量的权因子取
wi
sDi2
,对式(5)两边分别乘以wi,
可得以wiDi
2为等精美度因变量、以
wi和i*wi为两个新自变量的截
距为零的方程:
wiDi
2
b0wi
b1
i*
wi
(6)
由截距斜率之比b0
1
1.5
,可求出干涉级次中的小数部分
b1
k0
b0
1
1.5
b0/b1
(7)
b1
k0
加权回归分别获得
b0、b1
及它们之间的相关系数rb0,b1,则ε的A
类不确定度sε,A为:
s,A
sb0b1
2
2
sb0
sb1
sb0
sb1
(8)
b0b1
b0
2rb0b1
b0
b1
b1
关于Di2的B类不确定度,文件中指出条纹中心点的瞄准误差限
取为条纹宽度的 10%。关于必然细度F的F-P标准具,条纹全宽度对
应的波数差a为自由光谱区δν的2/F倍,δν对应的半径差近似取相邻
级次条纹平均间距 ri-ri+1≈(Di-1-Di+1)/4。则条纹的细度为:F=2δν/a,若
只考虑条纹中心点的瞄准误差限,可得相应直径平方 Di2的B类不确
定度重量为:
U2
2DUiD,2Di10%
2Di
1Di1
D,
i
F
4
i
0.05D2
D
i1
2
i
F
(9)
3
★干涉级次小数εj的求解过程
由千分尺或测量显微镜测出F-P标准具内间隔圈的厚度d0,求出
四组波长λj的整数级次k0j的近似估计值k0j
。利用式(6),加权拟合求
得b0,j和b1
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