可靠性试验管理程序.docVIP

HPT3-W-I-53 　　　　　　　　　　　　 第 PAGE 1页共 NUMPAGES 7页 深圳市恒宝通光电子有限公司 作业类指导书 可靠性试验规定作业指导书（试行版） HPT3-W-I-53 制订部门 工程部 版本号 A 修订状态 0 发放编号 受控印章 制 订 审 核 批 准 制订日期 审核日期 批准日期 修改记录 版本号 修改状态 修改内容 修订人/日期 A 0 首次发布 目的：验证产品的光电性能和机械性能的可靠性，验证产品的设计是否满足顾客的需求。 适用范围：本程序适用于恒宝通无铅化（符合ROHS标准）产品为SM 1x9光模块、SFF、GBIC、SFP和BiDi光模块，以及新开发的光模块等产品的可靠性测试。 参考文件： Bellcore TA-NWT 000983 Bellcore TR-NWT 000468 MIL-STD-883 可靠性试验监控程序 如有批量生产（每月1000个以上），则下述产品要提供规定的样品数量做可靠性试验作为监控产品的可靠性质量。 1.25Gb/s、2.5Gb/s SM 1x9光模块；1.25Gb/s、2.5Gb/s SFF；1.25Gb/s、2.5Gb/s SFPDDM光模块等 4.1.1 每季度的可靠性试验（每季度的可靠性试验流程参考第4.3节） 测试 条件 样品数量 频率 测试说明 高低温冲击 -40℃到+85℃，温度保持时间为15分钟，温度转换时间为5分钟 11PCS 每季度一次 20个温度循环 高温老化 85℃， 每季度一次 48小时 4.1.2 每半年的可靠性试验 在样品进行长期的可靠性试验前，要求对样品进行预处理试验。关于长期的可靠性试验监视计划工艺流程，请参看4.3节。 测试 条件 样品数量 频率 测试说明 高温老化 (HTOL) 85℃ 11PCS 每半年 168小时 温度循环 (TC) -40℃ +85℃ 15min dwell, 5min 转移 400次 11PCS 每半年 100次循环 高温高湿 (BDH) +85℃ /85%RH, 11 PCS 每半年 168小时 GBIC、SFP和各类BIDI等 4.2.1 每半年的可靠性试验（每半年的可靠性试验流程参考第4.3节） 测试 条件 样品数量 频率 测试说明 高低温冲击 -40℃到+85℃，温度保持时间为15分钟，温度转换时间为5分钟 11PCS 每半年一次 100个温度循环 高温老化 85℃ 每半年一次 168小时 4.2.2 每年的可靠性试验 在样品进行长期的可靠性试验前，除了进行机械震动和振动试验外,要求对样品进行预处理试验。关于长期的可靠性试验监视计划工艺流程，请参看4.3节。 T测试 条件 样品数量 频率 测试说明 高温老化(HTOL) 85℃, 5.0/3.3V 168小时 11pcs 每年 500 小时 温度循环 (TC) -40℃to +85℃ 15min dwell, 5min 转移 11 pcs 每年 200 次循环 高温高湿 (BDH) +85℃/85%RH, 11 pcs 每年 500小时 高低温冲击 -40℃到+85℃，温度保持时间为15分钟，温度转换时间为5分钟 11 pcs 每年 100个循环 机械冲击(MS) 1500g, 0.5ms, 5次/轴, 11 pcs 每年 After MS 变频振动 (MV) 20g, 20~2000Hz, 4分钟/循环, 4循环/轴, 11 pcs 每年 After MV EMI/EMC EN55022 6pcs 每年 ESD 500V 6pcs 每年 4.3．工艺流程 4.3.1每季度的可靠性试验 4.3.2每半年/年的可靠性试验 从产品中收集样品 从产品中收集样品 光/电测试 Pass 光/电测试 光/ 从产品中收集样品 从产品中收集样品 光/电测试 Pass 光/电测试 光/电测试 Fail 机械振动20个高低温循环冲击 100 机械振动 20个高低温循环冲击 100个高低温冲击 高湿存储 将这些产品保存起来 机械冲击 Fail 参阅季度可靠性不合格处理流程温循 参阅季度可靠性不合格处理流程拿回到产品中可以发货 光/电测试 参阅季度可靠性不合格处理流程Fail Pass 48小时高温老化 高温高湿实验 EMIEMCESD 高湿存储 将这些产品保存起来 机械冲击 Fail 参阅季度可靠性不合格处理流程 温循 参阅季度可靠性不合格处理流程 拿回到产品中可以发货 光/电测试