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图4.4.53 代码4.4.10的功能仿真图 4.4.6 奇偶产生/校验电路 1. 奇偶产生/校验电路工作原理 奇(或偶)校验码具有1位检错能力, 其基本思想是通过在原数据信息后增加1位奇校验位(或偶校验码), 形成奇(或偶)校验码。 发送端发送奇(或偶)校验码, 接收端对收到的奇(或偶)校验码中的数据位采用同样的方法产生新的校验位, 并将该校验位与收到的校验位进行比较, 若一致则判定数据正确, 否则判定数据错误。 具有产生检验码和奇偶检验功能的电路称为奇偶产生/校验器。 奇偶校验码包含n位数据位和1位校验位, 对于奇校验码而言, 其数据位加校验位后“1”的个数是奇数; 对于偶校验码而言, 数据位加校验位后“1”的个数是偶数。 下面设计一个采用偶校验的4位二进制偶产生/校验器。 表4.4.12列出了偶校验的真值表。 由此可写出校验位P的逻辑表达式: 表4.4.12 偶校验真值表 实现校验位P的电路如图4.4.54所示。 为了检验所传送的数据位及偶校验位是否正确, 还应设计偶校验检测器。 根据接收的数据位产生校验位P′与收到的校验位P进行比较就实现了校验功能, 电路如图4.4.55所示。 图中, E是输出的校验结果, 若P′=P, 则E=0, 表示校验正确; 若P′≠P, 则E=1, 表示校验错误。 图4.4.54 校验位产生电路 图4.4.55 偶校验电路 奇偶校验电路的逻辑符号如图4.4.56所示。 图4.4.56 奇偶校验单元逻辑符号 (a) 奇校验单元; (b) 偶校验单元 2. 奇偶产生/校验电路的应用 这里以CT74180器件为例, 说明奇偶电路的应用。 首先介绍CT74180, 该器件具有奇偶校验位产生和校验两种功能。 图4.4.57所示是CT74180的逻辑符号, 其真值表见表4.4.13。 图4.4.57 CT74180的逻辑符号 表4.4.13 CT74180的功能表 各输入信号的含义如下: ·A~H: 数据输入端。 · ODD: 奇校验控制输入端。 · EVEN: 偶校验控制输入端。 · ODD和EVEN是一对互补输入端, 不可以同时为0或1。 各输出信号的含义如下: · FOD: 奇校验输出端。 · FEV: 偶校验输出端。 FOD和FEV是一对互补输出端, 不可以同时为0或1。 当A~H中输入1的个数为偶数时, 有: (4.4.21) 当A~H中输入1的个数为奇数时, 有: (4.4.22) 这里通过一个8位的数据传送系统说明奇偶校验器的工作原理。 用于8位数据传输的数据的奇偶校验系统如图4.4.58所示。 图4.4.45 两变量卡诺图的降维 当采用C作记图变量时, 分析图(a), 若A=0, 则当C=0时, F=0; 当C=1时,F= 。 F与C的关系为 , 在图(b)中, A=0的小方格内填 。 若A=1, 则当C=0时,F=1; 当C=1时, F= 。 F与C的关系为 , 在图(b)中A=1的小方格内填 。 当采用A作记图变量时, 分析图(a), 若C=0, 则当A=0时,F=0;当A=1时,F=1。F与C的关系为 , 在图(c)中C=0的小方格内填A。 若C=1, 则当A=0时, F= ;当A=1时, F= 。 F与C的关系为F= , 在图(c)中C=1的小方格内填 。 当采用二选一电路实现例4.4.10的逻辑函数时, 若采用A、 B作记图变量, 则只需将D0=A,D1= , 用C控制选通端即可。 从上述分析可以得出结论, 设记图变量为x, 若在降维前卡诺图中, 当x=0时, 卡诺图中小方格的值为F; 当x=1时, 卡诺图中小方格的值为G, 则在新降维后的卡诺图中, 对应的小方格内填入函数为 。 3) 数据选择器的Verilog设计与仿真 代码4.4.8是实现一个四选一数据选择器功能的Verilog模块, 其功能仿真结果如图4.4.46所示。 代码4.4.8 四选一数据选择器模块。 module samp4_4_8(S, D, Q); //调用四选一数据选择器的顶层模块 input [3:0] D; input [1:0] S; output Q; mux4 u1(.iD
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