第六章SPC教材及CPK基础知识.pptxVIP

Statistical Processing Control（S P C）; SPC的目的 : 是要控制过程达到 “受控制的状态”, 其主要是用于对过程的控制,因为过程是问题的根源,需要对过程进行定时检查,以达到尽早找出问题,减少浪费之目的.SPC的最终目标在“预防题问的发生”及减少浪费”。   SPC的典型工具是品质控制图,利用简单的图表提供以下资料:  ①质量改进;  ②确定工序能力; ③决定产品规格; ④决定生产过程。;一、SPC的起源与发展;二. SPC控制图的基本原理;2 . 变异：任何系统中均存在变异,因此没有任何两件成品是完全相同的。 变异的类别：根据变异的原因，可分为随机性变异和特殊性变异两种。 A.特殊性变异：过程中变异因素是不在统计管制状态下的非随机性原因，其产品分配亦无固定分配。 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　时间 系统特殊性变异 　　　　　范围 特殊性变异可由简单的统计技术分析而得。一般称为局部问题结策，这类原因约占过程问题的15%。 ;B.随机性变异:过程中的变异因素是在统计管制状态下,其产品的特性有固定的分配,即分配位置、分配散布及分配形状三种。 位置 散布宽度　　　　　　　形状 系统缺失需要由过程能力去发现，且应由管理层努力去清除的共同原因，这类原因约占过程问题的85%。 ;Variability 变化;Sources of Variation变化的来源;Types of Variation变化的种类;三.SPC的分类;2.計數值管制圖(Control Charts For Attributes) a.不良率管制圖 ( p Chart ) b.不良數管制圖 ( np Chart ) c.缺點數管制圖 ( c Chart ) d.單位缺點數管制圖 ( u Chart ) ;四、控制图选用决策图;???、计量型数据控制图的应用;3.测试并修正极差R是否在统计控制之内的决策图 ;平均值與极差管制圖 (X-R Chart);X-R图的组成; 2.记录原始数据;B.计算控制线;R管制圖 中心線 CLR = R 上 線 UCLR = D4R 下 線 LCLR = D3R ※A2, D4, D3由系數表查得 ;2005.07.15;Ｃ．过程控制解释; ; 过程控制不稳定的基本表现;过程控制不稳定的基本表现;过程控制不稳定的基本表现; 过程控制不稳定的基本表现; 过程控制不稳定的基本表现;如客户没有特别要求,本公司目前只使用以下三种判断准则: 1. 超差: 一点或多点超出控制上、下控制限。 2. 趋势： ６个点连续上升或下降。 　　　　　　　 3. 漂移： ９个点连续在控制图中心线的上方　　　或下方。;Ｄ．X-R图制程能力解释;2.计算过程能力; Z值标准正态分布常数表 ;Zmin也可转化为能力指数CPK，定义如下：;均值与标准差图Ｘ－Ｓ;B.过程控制限;Ｃ．过程控制解释;2005.07.15;A.收集数据 B.计算控制限 UCLX =X +A2R UCLR = D4R CLX =X CLR = R LCLX = X – A2R LCLR = D3R 式中D4、D3和A2是随样本容量变化的常数 ;C.过程控制解释: 大至同X-R过程控制. D.过程能力解释: １．计算过程的标准偏差 R是子组极差的平均值，ｄ2 是随样本容量变化的常数 ｄ2 常数表 ;1.收集数据: . 在