EDA第2章PLD硬件特性与编程技术.pptxVIP

EDA技术与VHDL ;3.1 概 论 ;查找表逻辑结构 ;3.1.1 可编程逻辑器件的发展历程;PLD期间的发展历程;3.1 概 论 ;3.1 概 论 ;3.2 简单PLD原理 ;3.2.1 电路符号表示 ;3.2 简单PLD原理 ;3.2 简单PLD原理 ;3.2 简单PLD原理 ;PROM的逻辑函数;3.2 简单PLD原理 ;PROM可编程逻辑阵列;2X2 PROM的逻辑阵列图;用PROM实现半加器;（PROM） PLD的问题？;PLA的结构;PLA与PROM的比较;PLA的问题;PAL的结构;PAL 16V8的结构;PAL器件的方框图;PAL器件的特点;GAL的原理;2.2.5 GAL ;逻辑宏单元;OLMC结构之1，2（GAL）;OLMC结构之3，4（GAL）;OLMC结构之5，6（GAL）;OLMC结构之7（GAL）;GAL器件的问题？;CPLD的原理;3.3 CPLD的结构与工作原理 ;;基于乘积项的PLD;MAX7000的宏单元结构;宏单元的构成说明（一）;宏单元的构成说明（二）;3.3 CPLD的结构与工作原理 ;3．扩展乘积项 ;3.3 CPLD的结构与工作原理 ;5．I/O控制块 ;PLD器件I/O的使用提示;I/O的高阻输出;FPGA原理：查找表;4输入查表表的例子;LUT的工作过程;实际的LUT结构;3.4.2 Cyclone系列器件的结构与原理 ;;3.4.2 Cyclone系列器件的结构与原理 ;3.4.2 Cyclone系列器件的结构与原理 ;3.4.2 Cyclone系列器件的结构与原理 ;3.4.2 Cyclone系列器件的结构与原理 ;3.4.2 Cyclone系列器件的结构与原理 ;3.4 FPGA的结构与工作原理 ;3.4.2 Cyclone系列器件的结构与原理 ;嵌入式阵列块EAB是在输入、输出口上带有寄存器的RAM块，是由一系列的嵌入式RAM单元构成。;EAB的作用;3.4 FPGA的结构与工作原理 ;FPGA和CPLD的比较;补充内容：FPGA和CPLD的开发应用选择;1．器件的逻辑资源量的选择 开发一个项目，首先要考虑的是所选的器件的逻辑资源量是否满足本系统的要求。 2．芯片速度的选择 随着可编程逻辑器件集成技术的不断提高，FPGA和CPLD的工作速度也不断提高，pin to pin延时已达ns级，在一般使用中，器件的工作频率已足够了。 ; 3．器件功耗的选择 由于在线编程的需要，CPLD的工作电压多为5 V，而FPGA的工作电压的流行趋势是越来越低，3.3 V和2.5 V的低工作电压的FPGA的使用已十分普遍。 ; 4．FPGA/CPLD的选择 FPGA/GPLD的选择主要看开发项目本身的需要，对于普通规模且产量不是很大的产品项目，通常使用CPLD比较好。这是因为： (1) 在中小规模范围，CPLD价格较便宜，能直接用于系统。 (2) 开发CPLD的EDA软件比较容易得到，其中不少PLD公司将有条件地提供免费软件。 ; (3) CPLD的结构大多为EEPROM或Flash ROM形式，编程后即可固定下载的逻辑功能，使用方便，电路简单。 (4) 目前最常用的CPLD多为在系统可编程的硬件器件，编程方式极为便捷。 (5) CPLD中有专门的布线区和许多块，无论实现什么样的逻辑功能，或采用怎样的布线方式，引脚至引脚间的信号延时几乎是固定的，与逻辑设计无关。 ;FPGA的使用途径主要有以下4个方面： (1) 直接使用。即如CPLD那样直接用于产品的电路系统板上。 (2) 间接使用。其方法是首先利用FPGA完成系统整机的设计，包括最后的电路板的定型，然后将充分检证的成功的设计软件，如VHDL程序，交付原供产商进行相同封装形式的掩模设计。 ; (3) 硬件仿真。由于FPGA是SRAM结构，且能提供庞大的逻辑资源，因而适用于作各种逻辑设计的仿真器件。从这个意义上讲，FPGA本身即为开发系统的一部分。 (4) 专用集成电路ASIC设计仿真。 ;2.5 硬件测试技术 ;2.5.2 JTAG边界扫描测试 ;图2-44 边界扫描数据移位方式 ;图2-45 JTAG BST系统内部结构 ;图2-46 JTAG BST系统与与FLEX器件关联结构图 ;2.5 硬件测试技术 ;2.5 硬件测试技术 ;2.6 FPGA/CPLD产品概述 ;2.6 FPGA/CPLD产品概述 ;2.6 FPGA/CPLD产品概述 ;2.6 FPGA/CPLD产品概述 ;2.6 FPGA/CPLD产品概述 ;2.6 FPGA/CPLD产品概述 ;2.7