spc培训资料统计过程控制.pptxVIP

统计过程控制;第一讲：;美国质量管理专家朱兰博士著名论断：;质量世纪提出超严格质量要求：;;生产控制方式：3 ? →6 ?改进;TU;我国质量状况;——质量管理发展三个阶段及其比较;中国60年代从日本直接引入全面质量管理。 ;中国加入WTO ;世界制造业趋势 :;重要性、紧迫性、实际意义 ;第二讲;自然界每天发生现象/事件，多种多样、无穷无尽。 ;随机现象 ;统计学： ;统计学基本思想： ;1.随机性： ;2.规律性： ;1.数量性 ：;2.总体性 ：;3.具体性： ;三个准则 ：;统计学基础方法：随机抽样 ;? 总体——研究??象的全体。 ? 个体——构成总体的每个成员。 ? 样本——从总体中抽取部分个体组成的集合。 ——样品：样本中的每一个个体。  ——样本容量：样品的个数。又称样本量。 ;简单随机样本： ;随机抽样基本原则： ;样本实例 ：;样本实例 ：;统计技术 ：;统计方法： ;统计方法分类： ;统计描述 ：;统计推断： ;统计控制： ;统计方法：属性 ;统计方法主要作用 ：;统计方法应用范围 ：;统计方法应用基础条件： ;2.基础工作;统计方法应用成功的关键 ：;结论： ;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;3.2定量数据的整理与图示;SPC;一、波动及其原因;1.偶然波动;若仅仅是偶然波动出现，那过程输出呈正态分布。这个分布不随时间而变，因而可以预测结果。;;SPC;波动不可能消除，但是可以减小。;原材料不均匀设备性能不稳定工具破损 操作不当量具性能不稳定;2.如果过程处于统计控制状态——只存在偶 然波动;SPC;第二节 常规控制图分析 ; (一 )常规控制图的种类 ;(2)计数值控制图 ;控制图的原理 ;控制上限(记为UCL) 为?T+ 3?T 控制下限(记为LCL)为?T- 3?T 控制中心线 (记为CT)为?T ;构造;有时还把控制线内分成几个区域：;SPC;SPC;计量控制图:控制界限的制定 ;计量值控制图基于正态分布，正态分布有两个参数： ;均值-极差控制图 (X-R图) ;控制线如下：;均值-标准差控制图 ( X-s图 ) ;SPC;;SPC;中位数-极差控制图 (X-R图) ;SPC;计数控制图 ;计点控制图 ;采用计数控制图的优点 ;计件控制图控制界限如下：; 当样本大小 n 不等时，UCL与LCL将随之而变化 ;控制界限如下：;单位不合格数控制图控制界限如下：;SPC; 控制图实际上是生产过程质量的一种记录图形，它提供了判断过程是否处于统计控制状态的一种方法。 ;(二)控制图的两种错误 ;;（三）判稳准则: ;（四）判异准则 （2种类型）;常见的异常情况与模式有如下八种 ;(五)合理子组原则 ;(六) X一R控制图的分析 ; R(或s)图保持在统计控制状态 ——偶然波动。 R(或s)图不能保持在统计控制状态 ——异常波动。 R (或s) 图失控还会影响到均值的控制图。 应首先判断R(或S)图的受控状态。 再进一步考察均值的受控状态。 ;建立和使用计量控制图的步骤: ;3.作R图，将各样本点与控制限进行比较， 检查数据点有无失控或异常模式。若有 分析失控或异常，找出原因 ，进行纠正， 防止再发生。 4.剔除异常的子组，重新计算 R图 CL，  UCL，LCU，再次确认所有点受控。 必要时，重复直到所有点受控 ;5.当异常的子组剔除后，用留下的子组数 据，计算和，并计算它们的上下控制线。;7.当两个图都显示处于统计控制状态并 且满足过程能力的要求时，可以用于 实际的过程控制。 ;采用常规控制图应该考虑的问题 ;第三节 过程能力分析 ;这是一个潜在的过程能力指数 当Cp1时，过程不能满足规范要求 当Cp=1时，过程刚好满足规范要求 在实际中最好能使Cp=1.33 ;2.有偏离情况过程能力指数cpk的计算: 当产品质量分布的均值与公差中心M不重合(有偏离)时需对cp加以修正、计算如下 ;提高过程能力的途径 ;七、建立控制图前期的准备工作 ; 当控制图使用了一段时间后，应根据实际的质量水平，对控制图的中心线和上、下控制线进行修正，使控制水平能够不断提高。;