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前言 --如何用示波器进行射频信号测量连载(一)
前面推出了 《数字工程师需要掌握的射频知识》连载后, 反响强烈。有些工程师朋友联系我
说,除了数字工程师要用到射频仪器外,有些射频工程师也会用到示波器做射频信号测试,
但是不清楚精度如何,以及和频谱仪等传统仪器的区别,希望能对这方面做些讲解。
为此,我对示波器做射频信号测试的应用案例和注意事项做了一些整理,将陆续连载,
希望能给大家提供一些帮助。
时域测量的直观性
要进行射频信号的时域测量的一个很大原因在于其直观性。比如在下图中的例子中分别
显示了 4 个不同形状的雷达脉冲信号, 信号的载波频率和脉冲宽度差异不大, 如果只在频域
进行分析, 很难推断出信号的时域形状。 由于这 4 种时域脉冲的不同形状对于最终的卷积处
理算法和系统性能至关重要, 所以就需要在时域对信号的脉冲参数进行精确的测量, 以保证
满足系统设计的要求。
更高分析带宽的要求
在传统的射频微波测试中,也会使用一些带宽不太高( 1GHz)的示波器进行时域参数的
测试, 比如用检波器检出射频信号包络后再进行参数测试, 或者对信号下变频后再进行采集
等。此时由于射频信号已经过滤掉, 或者信号已经变换到中频, 所以对测量要使用的示波器
带宽要求不高。
但是随着通信技术的发展,信号的调制带宽越来越宽。比如为了兼顾功率和距离分辨率,
现代的雷达会在脉冲内部采用频率或者相位调制,典型的 SAR 成像雷达的调制带宽可能会
达到 2GHz 以上。在卫星通信中, 为了小型化和提高传输速率, 也会避开拥挤的 C 波段和 Ku
波段,采用频谱效率和可用带宽更高的 Ka 波段,实际可用的调制带宽可达到 3GHz 以上甚
至更高。
在这么高的传输带宽下,传统的检波或下变频的测量手段会遇到很大的挑战。由于很难
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从市面上寻找到一个带宽可达到 2GHz 以上同时幅频 / 相频特性又非常理想的检波器或下变
频器,所以会造成测试结果的严重失真。
同时,如果需要对雷达脉冲或者卫星通信信号的内部调制信息进行解调,也需要非常高
的实时带宽。传统的频谱仪测量精度和频率范围很高,但实时分析带宽目前还达不到 GHz
以上。因此,如果要进行 GHz 以上宽带信号的分析解调,目前最常用的手段就是借助于宽
带示波器或者高速的数采系统。
现代实时示波器技术的发展 --如何用示波器进行射频信号测量连载(二)
要实现射频信号的直接测量,首先得益于由于材料和芯片技术发展带来的实时示波器性能
的提升。
传统的示波器由于带宽较低,无法直接捕获高频的射频信号,所以在射频微波领域的应
用仅限于中频或控制信号的测试, 但随着芯片、 材料和封装技术的发展, 现代实时示波器的
的带宽、采样率、存储深度以及底噪声、抖动等性能指标都有了显著的提升。
材料技术革新对示波器带宽的提升
以材料技术为例,磷化铟 (InP)材料是这些年国际和国内比较热门的材料。相对于传统的
SiGe 材料或 GaAs 材料来说,磷化铟 (InP)材料有更好的电性能,可以提供更高的饱和电子速
度,更低的表面复合速度以及更高的电绝缘强度。 在采用新型材料的过程中, 还需要解决一
系列的工艺问题。 比如 InP 材料的高频特性非常好, 但如果采用传统的铝基底时会存在热膨
胀系数不一致以及散热效率的问题。氮化铝( AIN )是一种新型
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