AFM简介实验课课件.pptVIP

原子力显微镜Atomic Force Microscopy;主要内容;显微镜开展历史;光学显微镜;　　1938年：第一台透射电子显微镜〔TEM〕。 1952年：第一台扫描电子显微镜〔SEM〕。 电子显微镜的分辨率可以到达纳米级〔10-9m〕。;scanning tunneling Microscopy (STM，1982) Atomic force microscopy (AFM) Lateral Force Microscopy (LFM) Magnetic Force Microscopy (MFM) Electrostatic Force Microscopy (EFM) Chemical Force Microscopy (CFM) Near Field Scanning Optical Microscopy (NSOM) ;;开展历史;　　1982年，Gerd Binnig和Heinrich Rohrer创造扫描隧道显微镜〔STM )，获得1986年的诺贝尔物理学奖 。;根本原理; 1986，IBM，葛·宾尼（G. Binnig）发明了原子力显微镜(Atomic Force Microscope ,AFM)——新一代表面观测仪器．;根本原理;sample;根本原理;AFM信号反响模式;力检测局部;接触模式 (contact mode) 非接触模