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电阻炉设计方案 1.1 课题背景和意义 从 20 世纪 20 年代开始，电阻炉就在工业上得到使用。随着科学技术的发 展，电阻炉被广泛的应用在冶金、机械、石油化工、电力等工业生产中，在很 多生产过程中，温度的测量和控制与生产安全、生产效率、产品质量、能源节 约等重大技术经济指标紧紧相连。因此各个领域对电阻炉温度控制的精度、稳 定性、可靠性等要求也越来越高，温度测控制技术也成为现代科技发展中的一 项重要技术。 温度控制技术发展经历了三个阶段： l 、定值开关控制； 2、PID 控制； 3、 智能控制。定值开关控制方法的原理是若所测温度比设定温度低，则开启控制 开关加热，反之则关断控制开关。其控温方法简单，没有考虑温度变化的滞后 性、惯性，导致系统控制精度低、超调量大、震荡明显。 PID 控制温度的效果 主要取决于 P、I 、D三个参数。 PID 控制对于确定的温度系统，控制效果良 好，但对于控制大滞后、大惯性、时变性温度系统，控制品质难以保证。电阻 炉是由电阻丝加热升温，靠自然冷却降温，当电阻炉温度超调时无法靠控制手 段降温，因而电阻炉温度控制具有非线性、滞后性、惯性、不确定性等特点。 目前国成熟的电阻炉温度测控系统以 PID 控制器为主， PID 控制对于小型实验 用电阻炉控制效果良好，但对于大型工业电阻炉就难以保证电阻炉控制系统的 精度、稳定性等。智能控制是一类无需人的干预就能独立驱动智能机械而实现 其目标的自动控制，随着科学技术和控制理论的发展，国外的温度测控系统发 展迅速，实现对温度的智能控制。应用广泛的温度智能控制的方法有模糊控 制、神经网络控制、专家系统等，具有自适应、自学习、自协调等能力，保证 了控制系统的控制精度、抗干扰能力、稳定性等性能。比较而言，国外温度控 制系统的性能要明显优于国，其根本原因就是控制算法的不同。 本文的研究，以电阻炉为控制对象，以单片机 AT89C51为硬件核心元件， 设计一种新型的温度测控系统，使其具有硬件电路简单、系统性能优良等优 点。 1.2 国外温度控制系统的发展与现状 国外先进国家设计的各种温度控制自动化水平较高，装备有完善的检测仪 表和计算机控制系统。其计算机控制系统已采用集散系统和分布式系统的形 式，大部分配有先进的控制算法，能够获得较好的工艺性能指标。而国大多数 采用仪表控温，由于控制设备精度低，使产品质量受到很大影响。很多企业由 于种种原因，尚无能力购置先进的温度自动控制系统。 随着国外工业的日益发展，温度检测技术也有了不断的进步。温度测量系 统主要由两部分组成，一部分是传感器，它将温度信号转换为电信号。另一部 分是电子装置，它主要完成对信号的接收、处理、对测点进行控制、温度显示 等功能。对应于不同的温度段及测量精度要求，测温装置也不尽相同，从传感 器方面看，已出现有各种金属材料、非金属材料、半导体材料制成的传感器， 也有红外传感器。仪器本身也趋向小型化，多采用集成度较高的芯片或元件组 成电路。对于测点较多，并具有报警、巡测、控制等多功能测温装置，一般采 用单片机电路。目前的温度检测技术原理很多，大致包括以下几种 :(1) 物体热 胀冷缩原理 (2) 热电效应 (3) 热阻效应 (4) 利热辐射原理。 传统的温度传感器 ( 如, 热电偶、铂电阻、双金属开关等 ) 虽然有着各自不可 替代的优点 , 但由于自身因自热效应影响了测量精度 , 从而制约了它们在微型化 高端电子产品中的应用。与之相比较 , 半导体温度传感器具有灵敏度高、体积 小、功耗低、时间常数小、自热温升小、抗干扰能力强等诸多优点 , 无论是电 压、电流还是频率输出 , 在相当大的温度围 ( - 55 ～ 150 ℃) 都与温度成线性关 系 , 适合在集成电路系统中应用。目前 , 半导体温度传感器工作的温度围还限于