J750系统数据下载方法、系统、电子设备及存储介质与流程.docxVIP

PAGE PAGE 1 J750系统数据下载方法、系统、电子设备及存储介质与流程 本创造涉及数据批量处理技术领域，尤其涉及j750系统数据下载方法、系统、电子设备及存储介质。背景技术：通常，同一型号的芯片的量产测试，全部芯片接受的测试程序中的pattern是相同的。只需要在测试前将测试主程序及pattern加载一次即可。内嵌flash芯片的量产常规测试，除了进行芯片的功能测试和直流参数测试之外，依据客户需求，有的需标识每颗芯片的唯一性，以保证芯片信息平安及有效防止信息重叠，这就需要接受特殊的编码规章，将芯片唯一化信息写入芯片中；写入芯片标识唯一性信息主要是工厂码sn及uid码，这些唯一化信息，需要通过测试不同的pattern写入不同的芯片中，由于这些唯一化信息数据量不大，因此在j750测试系统上，内嵌flash芯片唯一性信息在量产测试中写入不同芯片的方法，是在测试每个芯片中，实时的将芯片的唯一性信息通过修改测试机pattern的方法(modifypattren)写入不同的芯片中。此类芯片的测试方法是在测试开头前测试系统加载一次测试主程序及pattern(全部芯片相同部分)，在测试每个芯片中，除测试芯片的功能及参数外，实时修改唯一性信息的pattern，将唯一性信息写入到芯片中(每个芯片不同部分)。但对于有些内嵌flash芯片特殊是信息平安芯片，需要