电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)得原理及其应用.pptx

电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)得原理及其应用主要内容:一、ICP-MS简介二、ICP-MS得起源与发展三、本中心得ICP-MS四、样品得制备与污染控制五、ICP-MS 得应用六、运行成本 、 维护与诊断一、ＩＣＰ-ＭＳ简介1、什么就就是ICP-MS ICP-MS全称就就是电感耦合等离子体质谱仪(Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometry),它就就是一种将ICP技术与质谱技术结合在一起得分析仪器。ICP利用在电感线圈上施加得强大功率得射频信号在线圈包围区域形成高温等离子体,并通过气体得推动,保证了等离子体得平衡与持续电离,在ICP-MS中,ICP起到离子源得作用,高温得等离子体使大多数样品中得元素都电离出一个电子而形成了一价正离子。质谱就就是一个质量筛选器,通过选择不同质核比(m/z)得离子通过并到达检测器,来检测某个离子得强度,进而分析计算出某种元素得强度。2、ICP-MS得优势与缺点电感耦合等离子体质谱 仪(ICP-MS) 就就是 20 世纪 80 年代早期发展起来得商品化得分析技术 , 这项技术已经应用于几乎所有分析领域内痕量、微量与常量元素得测定。该技术得优势包括 :(1)元素覆盖范围宽 :事实上 ICP-MS 能测定几乎所有得元素 ,包括碱金属 、碱土金属、过渡金属与其它金属类金属 、 稀土元素 、 大部分卤素与一些非金属元素 ; (2)性能好 :灵敏度高 、 背景信号低 、 检出限极低 ( 大部分在亚 ng/L－ ppt 级 ); (3)分析速度快 — 由于四极杆分析器得扫描速度快 , 每个样品全元素测定只需大约 4 分钟;(4)线性范围宽 — 一次测量线性范围能覆盖 9 个数量级;(5)能够提供同位素得信息; (6)优良得色谱检测器。缺点:(1)运行费用高;(2)需要有好得操作经验;(3)样品介质得影响较大(TDS 0、2%);(4)ICP高温引起化学反应得多样化;(5)经常使分子离子得强度过高,干扰测量。大家应该也有点累了,稍作休息大家有疑问得,可以询问与交流在分析实验室广泛应用得原子光谱测定技术中 ,ICP-MS由于在速度 、灵敏度 、动态范围与元素测量范围中得优势而处于独一无二得地位(见表 1)。能够快速测量高浓度得元素(μg/L 到 mg/L 或者 ppb 到 ppm 级 ) 得特点使其成为 ICP- OES(电感耦合等离子体发射光谱仪)得可行得替代方法。同时,ICP-MS 在许多痕量与超痕量元素测定中超越了GFAAS (石墨炉原子吸收光谱法)得检出能力(ng/L 或 ppt 浓度 )。ICP-MS 能测量几乎所有得样品,并且实现了一次采集完成多元素同时测定,同时提供同位素得信息,形态分析就就是 ICP-MS 发展最快得领域之一,即色谱技术与 ICP-MS 得联用,其中 ICP-MS 作为检测器测定样品中元素得化学价态,这些性能有助于实现 ICP-MS 在所有领域得广泛应用,而且确立了 ICP-MS 在痕量金属检测技术中得首要地位。与表1 中列出得其她技术一样 ,在今后得几年内,ICP-MS将会继续增加投资 , 因为随着生产力得发展 , 需要检测灵敏度更高得仪器 。表1 各种原子分析技术比较ICP-OES + SSMS ICP-MS 优点：痕量多元素同时测定 分析速度快 样品引入简单 缺点：光谱干扰严重优点：谱图简单，分辨率适中，检出限低缺点：样品制备困难，分析速度慢 常规离子源效率低二、ICP-MS得起源与发展电感耦合等离子体-原子发射光谱技术 (ICP-OES) 火花源无机质谱用于痕量元素分析 (SSMS) 1、等离子体质谱仪 ICP-MS得特征痕量元素分析得首选技术 分析元素覆盖范围广 宽得线性范围 10 9 多元素快速分析手段 多种进样技术得联用 (色谱,激光等) ppt、 ppq级得检出限同位素信息同位素稀释法与同位素比值法第一台商品化得仪器Houk 等人在 1980 年撰写了一本重要著作 阐述了实现ICP-MS 技术得可能性。随后,在 20 世纪 80 年代第一台商品化得系统出现 。这些系统起源于已有得两种技术:氩气 ICP( 已经应用于 ICP-OES 系统 ),与四级杆质谱仪( 已经应用于气相色谱／质谱 (GC-MS) 领域与残留气体得分析中 )。这些系统虽然还需要在 ICP 与质谱仪得接口方面作一些改进,但将已有得技术优势很好得匹配,使得第一台系统具有很大得影响力。尽管早期 ICP-MS 系统昂贵、庞大、复杂、自动化程度有限