x射线衍射分析.ppt

物质微区不均匀性，例如存在纳米级别的异类颗粒或孔隙，则会在 2θ5o 范围内出现相应的漫散射谱线即小角散射现象。 I 2θ 第三十一页，共68页 第三十二页，共68页 物相分析方法（X射线衍射分析） 物相分析-----测定元素（当样品为纯物质时） -----测定物相（当样品为化合物或固溶体时） 材料的成份和组织结构是决定其性能的基本因素。 化学分析能给出材料的成份， 金相分析能揭示材料的显微形貌， X射线衍射分析可得出材料中物相的结构及元素的存在状态。 三种方法不可互相取代。 物相分析包括定性分析和定量分析两部分。 成分分析：C元素 物相分析：石墨、金刚石、C60 第三十三页，共68页 定性分析 目的：判定物质中的物相组成。 原理：任何结晶物质都有其特定的化学组成和结构参数（包括点阵类型、晶胞大小、晶胞中质点的数目及坐标等）。当X 射线通过晶体时．产生特定的衍射图形，对应一系列特定的面间距d 和相对强度I / I1 值。 第三十四页，共68页 衍射线的位置取决于晶胞形状、大小，也取决于各晶面间距d ； 衍射线的相对强度I i/ I0则取决于晶胞内原子的种类、数目及排列方式； 所以，任何一种结晶物质的衍射数据d 和Ii / I0 是其晶体结构的必然反映。 不同物相混在一起时，它们各自的衍射数据将同时出现，互不干扰地叠加在一起。 因此，可根据各自的衍射数据来鉴定各种不同的物相。这有如用不同的指纹来区分不同的人。 第三十五页，共68页 第三十六页，共68页 X射线衍射物相分析的基本思想： （1）对于一束波长确定的单色X射线，同一物相产生确定的衍射花样。 （2）晶态试样的衍射花样在谱图上表现为一系列衍射峰，各峰的峰位2θi（衍射角）和相对强度Ii/I0是确定的。由2dsinθ=λ可求出产生各衍射峰的晶面族所具有的面间距di 。这样，一系列衍射峰的di—Ii/I0，便象“指纹”一样成为识别物相的标记。 （3）混合物相的谱图是各组分相分别产生衍射或散射的简单叠加。 根据上述思想，参照已知物相标准，由衍射图即可识别样品中的物相。 第三十七页，共68页 物相定性分析过程： 1. 实验 用粉末衍射仪法获取被测试样物相的衍射图谱。 2. 将实验得到样品的衍射图与已知物相在相同实验条件下的衍射图直接比较，根据峰位、相对强度、样品结构已知信息等判别待定物相。 3. 通过对所获衍射图谱的分析和计算，获得各衍射峰的2θi ，各衍射峰对应的面间距di及各峰相对强度Ii/I0。在这几个数据中，要求对2θi和di值进行高精度的测量计算，而Ii/I0相对精度要求不高。目前，一般的衍射仪均由计算机直接给出所测物相衍射线条的di值。 第三十八页，共68页 4. 由di，然后结合Ii/I0，及试样结构已知信息等，在汇编标准中用di—Ii/I0 ，使用检索手册，根据需要使用字母检索、Hanawalt检索或Fink检索手册，查寻物相PDF卡片号对照检索，定性识别物相。 5. 若是多物相分析，则在（3）步完成后，对剩余的衍射线重新根据相对强度排序，重复（3）步骤，直至全部衍射线能基本得到解释。 第三十九页，共68页 1938年左右，哈那瓦特（Hanawalt)等就开始收集和摄取各种已知衍射花样，将其衍射数据进行科学的整理和分类。 1942年，美国材料试验协会（ASTM）整理出版了卡片1300张，称之为ASTM卡片。 1969年起，由美国材料试验协会和英国、法国、加拿大等国家的有关单位共同组成了名为“粉末衍射标准联合委员会”（JCPDS）国际机构，专门负责收集、校订各种物质的衍射数据，将它们进行统一的分类和编号，编制成卡片出版，这种卡片组被命名为粉末衍射卡组（ Powder Diffraction File, PDF）。 第四十页，共68页 标准卡是取每种物相的八条最强线的d值和相对强度来表示，其中头三条线必须是2θ90的最强线。 JCPDS卡片应用步骤： 选三条最强的衍射线，再任选其中一条衍射线d。在索引卡上的该d值范围内查，（如d=2.12A,须在2.10－2.14范围内查），再根据第二根较强线的d值，在索引中找；再看第三条线。对比时还要注意三根线的相对强度是否大致符合。 第四十一页，共68页 (1) 1a,1b,1c三数据为三条最强衍射线对应的面间距,1d为最大面间距； (2)2a,2b,2c,2d为上述各衍射线的相对强度，其中最强线的强度为100； 第四十二页，共68页 (3) 辐射光源 波长 滤波片 相机直径 所用仪器可测最大面间距 测量相对强度的方法 数据来源 第四十三页，共68页 (4) 晶系 空间群 晶胞边长 轴率 A=a0/