【外文翻译】一种自校验RS编码器的分析和设计.docVIP

PAGE PAGE 1 外文文献翻译 一种自校验RS编码器的分析和设计1. 1.G.C. Cardarilli, S. Pontarelli, M.Re, A. Salsano, Proceedings of the 2005 20th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT’05) 罗马第二大学，电气工程学院，罗马，意大利 1.摘要RS码被广泛用于识别和纠正在传输和存储系统的数据错误。由于这些模块的极端重要性，一个很重要的研究课题是对它们误码率的影响的研究。我们所提出的架构上利用了有限域中的伽罗瓦的算术运算的一些性质，涉及了该领域中的二进制的奇偶校验。该编码器已经在基于FPGA的SRAM中映射出来，自我校验的功能通过单粒子翻转单元得到分析。在面积和延迟方面也做了一些介绍。 2.导言 高可靠的数据传输和存储系统经常使用纠错码（ECC）功能来保护他们的数据。 因此，他们能够在适当的方法下检测出二进制比特流的数据中的错误，并且纠正编码字。编码方法的性能衡量是从一个码字中能检测出的最大的误比特数和能够纠正的最大误比特数来进行的。其他主要因素是电路的复杂性和代码实现的可行性。 事实上，一个编码过程的实际执行系统需要两个基本模块即编码器和解码器的发展。第一部分从非编码字计算出要实现的代码位码字（由位组成的数据和代码），这是要被存储或传输的保密的数据。相反，解码器从接收码字开始，检查它的正确性，最终纠正错误位。为了满足系统的要求，这些模块往往必须在速度和纠错能力方面具有高性能从而能够处理大量数据时保持其完整性。人们在致力于发展与提高错误代码检测和纠正的能力方面已经做出了非常大的努力，但是，通常情况下，在编码器和解码器方面作出的更大的努力表现了相对较大的发展。通常，系统设计者专注于数据在系统输入和输出时的编码和解码，这样做的首要目标是保护在其系统内部的数据流。在设计中的非常关键点是输入和输出电路，因为这些电路中的任何错误可能会对整个系统造成灾难性的影响。一个在编码器的故障可产生一个非正确的码字，而在解码器的故障会提供一个错误的数据，即使没有任何错误在传输的码字出现。此外，这些错误将在系统中的每一个数据流中出现。因此，为了恢复在编码和解码中的错误必须付出很多精力。这些错误可能是由传统因素引起，如技术工艺的落后，电子设备的老化，或者是由于科技进步造成电子设备体积的减小使电子设备中的器件容易受到外界的干扰而产生出的新现象。其中的一项重要因 素是电磁辐射对硅器件的影响。高能粒子在穿越器件的过程中可以给器件注入电荷，这些电荷由于具有电极性而能够到达有源器件并对它们造成影响。这些被称为单粒子翻转的现象在太空环境的应用场合得到了极大的研究。单粒子翻转在海洋探测和航空设备中被观察。当今，使用最为广泛的纠错码是基于有限时域算法的RS码。我们提出使用这种方法能在编码方面产生的错误以使具有这种算法结构的电路具有自我校验功能。这种电路结构通过FPGA实现，我们提出的想法通过这种电路实现。论文是这样组织的：第二节描述用于FPGA中的模式的故障，第三节说明了RS码使用的背景，第四节介绍了关于RS编码器的算术结构的属性。在第五节拟提出自检RS编码器架构。而在第六节提出了一些面积和延迟的评估。最后，在第七节给出结论。 一种基于FPGA的SRAM的单粒子翻转的故障建模概述在本节介绍。提出错误的根据是最近提出的建模方法中的使用。一个典型的基于FPGA的SRAM基本组成是由一个个CLB阵列（复杂逻辑块）。单粒子翻转可以影响无论是FPGA或使用应用程序的内存的元素配置的应用程序的使用寿命。因此，单粒子翻转在FPGA上的影响可以划分如下： 1）在寄存器单粒子翻转： 2）单粒子翻转中的LUT： 3）路由配置内存单粒子翻转： 在一个存储单元CLB的单粒子翻转可以被看作是一个位翻转，改变了触发器中存储的位（从1到0或从0到1）。变化中的LUT的单粒子翻转的功能提供了组合运作。当存储单元的一个单粒子翻转的影响是由输入信号处理所提供时LUT的单粒子翻转是一个相反的预期。对于 RAM单粒子翻转影响的两个方面可以表达如下： 1）开路缺陷 2）短路缺陷 在无故障情况中，配置SRAM使一些在矩阵互连，就可以使不同的CLB连接在一起。图1是一对互连的Xilinx Virtex结构的 FPGA的矩阵，其中两个互连用于连接两个邻接CLB与系统的其他部分。 图1：有两个网络的无故障互联矩阵 必须看到，只有少数的FPGA资源在设备的配置中使用，而其他互连资源仍闲置。以同样的方式，虽然单粒子翻转影响路由配置存储器可能有许多不同的