译文AECQ100RevHBaseDocument全文翻译.docxVIP

? AEC-Q100-Rev-H 2014年9月11日 ? ? ? ? ? 基于失效机理 压力试验鉴定 对于 集成电路 ? ? 汽车电子委员会 部件技术委员会 ? ? ? 目录 ? 基于AEC-Q100失效机制的集成电路应力测试鉴定 ? 附录1： ? 资格系列的定义 附录2： ? Q100设计、施工和资格认证 附录3： ? 用于电线粘合试验的塑料包装开口 附录4： ? 资格鉴定计划和结果的最低要求 附录5： ? 确定EMC测试需求的零件设计标准 附录6： ? 确定SER测试需求的零件设计标准 附录7 AEC-Q100和任务概要的使用 ? 附件 ? AEC-Q100-001：钢丝粘结剪切试验 ? AEC-Q100-002：人体模型（HBM）静电放电（ESD）试验 ? AEC-Q100-003：机器型号（MM）静电放电（ESD）试验 （退役） ? AEC-Q100-004：IC闭锁测试 ? AEC-Q100-005：非易失性存储器写入/擦除耐久性、数据保留和运行寿命试验 ? AEC-Q100-006：电热感应寄生栅极泄漏（GL）试验 （退役） ? AEC-Q100-007：故障模拟和测试分级 ? AEC-Q100-008：早期寿命失效率（ELFR） ? AEC-Q100-009：配电评估 ? AEC-Q100-010：锡球剪切试验 ? AEC-Q100-011：充电设备模型（CDM）静电放电（ESD）试验 ? AEC-Q100-012：12V系统智能电源装置的短路可靠性表征 ? ? ? 修订摘要 ? ? 本资料性章节简要介绍了AEC-Q100 Rev-H文件与之前的文件版本AEC-Q100 Rev-G（2007年5月14日）相比所做的更改。标点符号和文本改进不包括在本摘要中。 ? ?第1.2.1节-汽车参考文件：增加了对AEC-Q005无铅要求的参考 ?新的第1.2.4节-退役参考文件：增加了新的章节，提供了关于消除AEC-Q100-003机型ESD（因工业试验过时而删除）和Q100-006电热感应闸门泄漏（因缺乏作为鉴定试验的工业需要而删除）的指南 ?第1.3.1节–AEC Q100资格认证：增加建议，在供应商数据表中规定通过ESD的电压水平，并在任何引脚例外情况上添加脚注 ?新的第1.3.2节-AEC认证：增加了新的定义，澄清AEC-Q100“认证”不存在，供应商根据AEC标准进行资格测试 ?第1.3.4节-零件工作温度等级的定义：增加了新的表1，定义了零件工作温度等级和试验期间温度使用指南（如端点、接头）；消除4级（0°C至+70°C）入口 ?新的第1.3.5节-能力测量，Cpk：增加了AEC-Q003特性文件的新定义和参考 ?第2.2节-要求的优先顺序：增加了采购订单和设备规范条目的澄清 ?第2.3.1节-通用数据的定义：将现有表1、零件鉴定/再鉴定批次要求和部分章节文本移至附录1-产品鉴定系列的定义 ?第2.3.2节-通用数据验收时限：增加了图1中图表使用的文本 ?第2.4.1节-批次要求：增加了与表2的偏差需要技术解释的声明 ?第2.5节-应力后试验失败的定义：增加EOS声明 ?第3.1.1节-在当前合格系列中制造的新设备的鉴定：删除整个章节，附录1中涵盖了主题。 ?第3.2.3节-通过再鉴定的标准：修改文本，为AECQ100再鉴定提供更好的指导 ?新的第3.3节-无铅设备的鉴定：增加了新的章节，包括无铅设备的要求和AEC-Q005无铅要求文件的参考 ?图2-鉴定试验流程：o试验组A：删除PTC前PC的声明o试验组B：纠正HTOL后试验至室温、低温和高温o试验组E的试验温度顺序：删除对MM ESD和GL试验的参考 ?表2–鉴定试验方法：o试验A3–高压灭菌器或无偏差HAST或温湿度（无偏差）：增加了对附加要求栏的参考 o测试A4–温度循环：修改的低端温度和最短持续时间；增加了传统测试温度注释；取消四年级入学资格 o试验A6–高温贮存寿命：增加了对Ta（环境温度）的参考o试验A7–高温运行寿命：删除了408小时试验持续时间选项；增加了关于使用Ta（环境温度）和Tj（结温）的注释 o试验C1–钢丝粘结剪切：删除Ppk要求；将Cpk接受标准修改为 Cpk1.67；增加了对AEC-Q003 o测试C2的参考-导线粘结拉力：删除了Ppk要求；将Cpk接受标准修改为 Cpk1.67；增加了对AEC-Q003 o测试C3–可焊性的参考：增加了对J-STD-002D的参考以及关于使用干烘焙的声明 ? ? 修订摘要（续） ? ? ?表2-鉴定试验方法（续）：o试验C4-物理尺寸：去除Ppk要求；将Cpk接受标准修改为 Cpk1.67；增加了对AEC-Q003 o试验C5-锡球剪切机的参考：删除了Ppk要求；将Cpk接受标准修改为 C