半导体激光器(15501310)高低温循环寿命研究.docxVIP

— PAGE \* Arabic 1 — 半导体激光器高低温循环寿命研究 半导体激光器（1550/1310）高低温循环寿命研究  苏美开  （济南福来斯光电技术室，flsoe@http://./doc/78bdbad276a20029bd642d39.html ）    2.2实验步骤  为了考察不同温度范围、不同循环速度对器件寿命的影响，将40只器件分成四组固定在四个相同型号的高低温循环箱，循环箱温度设定精度为1℃。循环时器件不加电，实验过程中最后和中间按照计划进度测试几个点，如表1所示。应该注意的是，中间测试过程中，器件的温度应先降至（或升至）室温25℃再测试，且中间停留时间尽可能短。  表1.温度测试循环实验次序    2.4寿命模型  假设失效标准Δη＝10%，记录下循环次数对应的失效器件数目。累计失效分布如图3所示，满足威布尔分布。下面我们对测试结果分析，从而建立一个数学模型。先看看四种情况的中值寿命，如表2所示。  表2 四种情况的中值寿命   从表可以看出，外界环境影响器件寿命的因素有两个：一是循环温差ΔT ，另一个是循环速度σ,温差越大，循环寿命越小，反之亦然。同样，循环速度越快，循环寿命越小，反之亦然。下面定量讨论它们的关系。  设循环次数为N,失效率为F ，则根据图3有：  b N k F +=)ln( （1）  其中k 是与循环速度有关的常数，b 与循环温差ΔT 有关的常数。由（1）得  )/exp()/exp(k b k F N -= （2） 设T E b ?  =  , k=k ′σ(其中E ′、k ′为比例常数)，则（2）式可以写为： )exp()exp(T  E  k F N ?-=σσ （3）  其中E ＝E ′/k ′为常数。(3)式是器件循环次数与失效率关系的近似表达式子。例如，确定F 值（如  50%）便可求得中值寿命对应的循环次数。  当循环速度σ确定时，由（3）式可以求得循环次数与温差的关系  )exp(T E C N T T ?-  =＝)exp(1  2T T E C T  -- (4) 其中E T =E/σ, )exp(  σ  k F  C =。(4)式从形式上与Arrhenius 模型[2]是一致的。 当循环温差ΔT 确定时，改变循环速度，由（3）式可以求得循环次数与循环速度的关系  )exp(σ  σσE  N = (5)  其中，)(T   E k  F E ?-=σ。  图4是六种热循环情况（增加一个60℃温差实验）中值寿命（达到50%失效）随循环温差幅度变化的半对数曲线。方点和圆点分别代表两种循环速度：σ＝2℃/min 和σ＝10℃/min 。实验值半对数曲线成线性分布，与理论模型符合较好。  从图4可以求出在正常环境条件下，例如ΔT ＝20oK,循环速度为σ＝2℃/min ，外效率标准降低0.5dB 时，器件中位寿命约为3000个循环；而当ΔT ＝20oK,σ＝10℃/min 时，器件中位寿命约为1000个循环。  3. 结论  模拟了不用环境条件下对1310nmLD 组件进行了高低温循环寿命的实验研究，得到了循环寿命  图  4. 不同温差下，器件达到50%失效中值寿命半对数曲线  的数学模型，结果表明：1310nm半导体激光器的寿命不仅与使用的环境温度有关[6]，而且与使用环境的温差变化幅度、变化速度有关。循环寿命与循环的温差、循环的速度成指数关系。利用这个结论，通过测试器件在高温差、高循环速度条件下的寿命，外推器件正常条件下的循环寿命，从而得到器件可靠性数据，为工艺设计人员提出量化数据。