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XPS 数据分析 纵坐标：Intensity(cps) 横坐标：binding energy（eV） 除了氢氦元素，其他的元素都可以进行分析；先进行宽扫，确定样品有何种元素，再对该元素进行窄扫。该元素的不同键接方式都对应不同的峰，所以对元素窄扫的峰要进行分峰（分峰之前要进行调整基线）。如何分峰，不同的键接方式会对应不同的结合能。 第一步：先把元素的窄扫峰用 origin 画出来； 纵坐标：Intensity(cps) 横坐标：binding energy（eV） 第二步：调整基线； 选择 Ceate Baseline-----next------next add/modify 添加（双击）或去除（delete）基点，保 证基线水平 Finish 最小化图，会出现调整基线后的坐标。插入一列， 单机右键选择 set column values 输入 col（b）-col（d）：即开始纵坐标减去调整基线后的纵坐标。 再用横坐标与刚开始得到的纵坐标作图 调整基线后的 XPS 窄扫图。 第三步：对峰求积分面积； 丘器器 L}`勹BP ”总念十囚．士．怎砓泣 中Txb~— -uII 丘器器 L }` 勹 BP ”总念十囚．士．怎砓泣 中T x b ~ ．书、i1 5 ] ． 蛐；钮勺雪） 蛐：正住） 蛐 靶： ＂ 札 C廖）  心OOO 3 和 OO 劝 OOO 2 的 OO 为 OOO