质谱仪工作原理 .pptx

质谱仪工作原理第一节 质谱仪及其工作原理一、质谱法概述二、质谱仪的结构和工作原理进样系统、离子源、质量分析器、检测器、真空系统和数据处理系统三、质谱联用技术GC-MS,LC-MS,串联质谱法四、质谱图与质谱仪性能指标质量范围、分辨率、灵敏度、质量稳定性和精度一、质谱法概述 使待测的样品分子气化,用具有一定能量的电子束(或具有一定能量的快速原子)轰击气态分子,使气态分子失去一个电子而成为带正电的分子离子。分子离子还估计断裂成各种碎片离子,所有的正离子在电场和磁场的综合作用下按质荷比(m/z)大小依次排列而得到谱图。质谱法是一种依照离子的质核比(m/z)大小对离子进行分离和测定的方法。 质谱法的主要作用是:(1)准确测定物质的分子量(2)依照碎片特征进行化合物的结构分析Sample+_DetectorMass AnalyzerIonizer1913年,J、J、 Thomson 制成第一台质谱仪有机质谱仪:无机质谱仪:同位素质谱仪气体分析质谱仪二、质谱仪的结构和工作原理High Vacuum System质量分析器Mass Analyzer数据处理系统Data System离子源Ion source进样系统Inlet检测器Detector进样系统离子源质量分析器检测器1、单聚焦2、双聚焦3、飞行时间4、四极杆1、气体扩散2、直截了当进样3、气相色谱1、电子轰击2、化学电离3、场致电离 4、快原子轰击　撞击　　　　　　　 得到高速电子　气态分子　阳离子　 顺序谱图　 质量分析器定性结构 定量分析导入按质荷比m/e　峰位置峰强度质谱过程真空系统进样系统:直截了当进样和色谱进样离子源:电子轰击离子源EI,化学电离源CI, 快原子轰击源FAB,电喷雾源ESI, 大气压化学电离源APCI,激光解吸源LD质量分析器:磁式单聚焦和双聚焦、四级杆、飞行时间、离子阱、傅里叶变换离子回旋共振分析器检测器:光电倍增管数据处理系统质谱仪的结构1、真空系统离子源的真空度应达到10-3-10-5 Pa,质量分析器应达到10-6Pa。真空装置:机械真空泵 扩散泵 分子涡轮泵高真空原因大量氧会烧坏离子源的灯丝;几千伏的加速电场会引起放电;引起额外的离子－分子反应,改变裂解模型,谱图复杂化。2、进样系统(1)直截了当进样 适用于单组份、有一定挥发性的固体或高沸点液体样品。 (2)色谱进样 适用于多组分分析。 气相色谱-质谱联用仪(GC-MS) 液相色谱-质谱联用仪(LC-MS)等 3、离子源电子轰击离子源EI,化学电离源CI, 快原子轰击源FAB, 磁式双聚焦质谱仪 电喷雾源ESI, 大气压化学电离源APCI,激光解吸源LDGC-MSLC-MS+: R1+: R2: R3+: R4++: e(M-R2)+(M-R1)+Mass SpectrumM+(M-R3)+(1)电子轰击源(electron impact ionization, EI) 电子轰击法是通用的电离法,是使用高能电子束从试样分子中撞出一个电子而产生正离子,即 　ABCD + e- ? ABCD+ + 2e- 分子离子 ? BCD? + A + ? B? + A + ? CD? + AB + ? A ? + B + ABCD+ ? D? + C + ? AB ? + CD + ? C ? + D +碎片离子分子离子、碎片离子、重排离子、加合离子、同位素离子。 EI 源的特点:电离效率高;应用广泛;操作方便EI源:可变的离子化能量 (10～240eV,常用70eV )电子能量?电子能量?分子离子增加碎片离子增加 关于易电离的物质降低电子能量,而关于难电离的物质则加大电子能量(常用70eV )。CH4+ e CH4 + + 2eCH4+ + CH4CH5 ++ CH3生成的气体离子再与样品分子M反应： CH5 + + M CH4 + MH+(2) 化学电离源(chemical ionization CI) 离子室内的反应气(甲烷等;10～100Pa,样品的103～105倍),电子(100～240eV)轰击,产生离子,再与试样分离碰撞,产生准分子离子。 结构与EI同,然而在离子化室充CH4,电子首先将CH4离解,其电离过程如下:++试样分子气体分子准分子离子电子+(M+1)+;(M+17) +;(M+29) +;过程特点: 得到一系列准分子离子(M+1)+,(M-1)+,(M+2)+等等;CI源的的碎片离子峰少,图谱简单;不适于难挥发成分的分析。 (3)快原子轰击 (fast atom bombardment FAB) 高能量的Ar原子轰击涂在靶上的样品,溅射出离子流。 本法适合于高极性、大分子量、低蒸汽压、热