4大显微设备介绍【动图秒懂】.pptxVIP

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2022-05-10 发布于广东
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2022-5-7 博升机密 1 SEM 逐点扫描，呈现样品表面不同的特征镀导电膜对于用sem分析不导电样品是不可缺少的一般导电膜无外乎三种材料：Au，Pt，C 需要高分辨的情况下,尽量使用Pt或者Pt-Pd合金膜.因为它对图像的扭曲最小 2022-5-7 博升机密 2 TEM TEM是聚焦电子束投射到非常薄的样品上，透过样品的透射电子束或衍射电子束所形成的图像来分析样品内部的微观组织结构 TEM常用于研究纳米材料的结晶情况，观察纳米粒子的形貌、分散情况及测量和评估纳米粒子的粒径 2022-5-7 博升机密 3 STM 当原子尺度的针尖在不到一个纳米的高度上扫描样品时，此处电子云重叠，外加一电压（2mV~2V），针尖与样品之间产生隧道效应而有电子逸出，形成隧道电流。电流强度和针尖与样品间的距离有函数关系，当探针沿物质表面按给定高度扫描时，因样品表面原子凹凸不平，使探针与物质表面间的距离不断发生改变，从而引起电流不断发生改变。将电流的这种改变图像化即可显示出原子水平的凹凸形态。 2022-5-7 博升机密 4 AFM AFM通过检测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的针尖接近样品，通过其相互作用，使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。利用传感器检测这些变化来获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息照亮三维世界的新光源深圳博升光电科技有限公司 info@ 2150 Shattuck Ave. Suite 1005 Berkeley, CA 94704-1620 广东省深圳市南山区留仙大道3370号南山智园崇文园区26楼