电子产品设计方法.pptxVIP

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会计学;电子产品 ;电子信息产品 ;电子产品设计;二、电子产品设计的一般步骤;三、产品设计的一般方法;2、底层设计法;3、顶层与底层综合设计;模拟电路数字化的趋势更加明显。 如:数字接收机,数字储频。 数字电路的发展经过了分离元件,SSL、MSL、LSL、VLSL。 数字电路设计经历了逻辑设计、CAD、EDA。 现代的数字系统广泛采用了基于芯片的EDA设计方法。 ;四、电子产品设计的主要内容;总体设计中的几个注意点: (1)技术指标 如:重频跟踪器设计中,对被跟踪雷达信号的理解。 (2)产品使用环境 如:重频跟踪器中,同步信号丢失情况的补充。 (3)产品的环境指标: 温度、器件的选取、湿度(盐雾)、三防、振动等。 (4)关键元器件的采购渠道 例:89年MD8096的采购 大功能MM 波行波管,“巴统”的禁运条款(引进项目设备);(5)细节决定成败 元器件的老化、筛选 例:数字储频中某电容在-55℃~-50℃之间失败。 (6)研制技术的风险 一个产品的研制,一般都会存在技术上的难点。总体设计在于尽可能利用成熟技术来实现产品的功能,以减小研制风险。对于技术上的难点,应首先进行预先研究,待技术成熟以后再转入后续的研制。 ;(7)产业政策与环境评估 2、结构设计 所谓结构,包括外部结构和内部结构两部分。外部结构指机柜、机箱、机架、底座、面板、底板等。内部结构指零部件的布局、安装、相互连接等。欲达到合理的结构设计,必须对整机的原理方案、使用条件和环境、整机的功能与技术指标及元器件等十分熟悉。 根据产品的总体要求进行结构设计时,应根据电子产品使用的温度范围、环境因素,设计合理的结构形式和布局,考虑是否需要减震、“三防”等措施,特别是电路的散热问题,设计合理的风道等。;因为:高温会引起电子产品的绝缘性能退化、元器件损坏、材料的热老化、低熔点焊缝开裂、焊点脱落等。 温度对元器件的影响:一般而言,温度升高电阻阻值降低;高温会降低电容器的使用寿命;会使变压器、扼流圈绝缘材料的性能下降, 一般变压器、扼流圈的允许温度要低于95度,温度过高还会造成焊点合金结构的变化—IMC增厚,焊点变脆,机械强度降低;结温的升高会使晶体管的电流放大倍数迅速增加,导致集电极电流增加,进而使结温进一步升高,最终导致组件失效。; 因此,必须采用合理的散热方式控制产品内部所有电子元器件的温度,使其所处的工作环境温度不超过标准及规范所规定的最高温度,最高允许温度的计算应以元器件的应力分析为基础,并且与产品的可靠性要求以及分配给每一个元器件的失效率相一致。也就是说热设计是电子设计中不可缺少的环节。 3、可靠性设计 产品的可靠性设计方法,从表面上看都是技术问题,但实质上包含技术和管理两个方面。首先要对产品的可靠性(MTBF)进行预测,以确定是否满足总体要求。; 1、电阻器降额外加功率、极限电压、极限应用温度三个指标,功率降额系数0.1—0.5;2、电容器降额外加电压、频率范围、温度极限三个指标,普通铝电解电容和无极性电容的电压降额系数0.3—0.7之间,钽电容的电压降额系数0.3以下;3、晶体三极管降额结温、集电极电流、任何电压指标,晶体二极管降额结温、正向电流及峰值、反向电压三个指标,功率降额0.4以下,反向耐压0.5以下,发光管电压降额0.6以下,功率降额0.6以下,功率开关管电压降额系数在0.6以下,电流降额系数在0.5以下;4、变压器降额工作电流、;电压、温升(按绝缘等级)指标,电感和变压器的电流降额系数0.6以下;5、接插件降额电流、电压指标,根据触点间隙大小、直流及交流要求降额。接插件嵌入材料和火花发热对接点寿命的影响,在中低频多接点接插件采用两点或多点接地并联方式,降额和增加冗余功能;6、电缆导线降额指标:电流(铜线,≤7A/mm2)、电缆电压(尤其多芯电缆),塑料导线的电流降额0.7以下;7、电动机降额轴承负载、绕阻功率指标,伺服电机的轴承失效和绕组失效,轴承负载降额和绕组功率降额0.3—0.8;8、对电子元器件降额系数应随温度的增加而进一步降低。;对有些指标是不能降额的: 1、继电器的线包电流不能降额,而应保持在额定值左右(100±5% );否则会影响继电器的可靠吸合。 2、电阻器降低到10%以下对可靠性提高已经没有效果。 3、对电容器降额应注意,对某些电容器降额水平太大,常引起低电平失效,交流应用要比直流应用降额幅度要大,随着频率增加降额幅度要随之增加。 4、结构设计降额不能增加过大,否则造成设备体积、重量、经费的增加。;4、电路设计 ;在电路设计时应注意以下几方面的细节: TTL器件的使用 1)电源电压U cc

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