充磁机工作原理.docx

PAGE PAGE 1 / 5 充磁机工作原理 一、磁测仪器、设备常用的磁测仪器有： 磁通计、特斯拉计（又称为高斯计）、磁测仪。磁通计用于测量磁感应通量； 特斯拉计用于测量表面磁场强度或气隙磁场强度磁测仪用于测量综合磁性能。 所有仪器使用之前应仔细阅读说明书，根据说明书的要求预热，预热之后按照说明书的要求进行操作。 二、应用特斯拉计（高斯计）测量 特斯拉计一般可用於测量磁性材料的表面磁场强度，具体而言就是测量表面中心部位的场强。 测量之前应根据说明书的要求进行预热，然后检查、调整零点，使得非测量状态下的示值为0。注意： 在使用过程中一般不应调整霍尔电流。更换探头时应根据探头的说明在仪器热态下调整霍尔电流，并在适当的部位标识霍尔电流参数值。可以经常检查电流值，应为规定的数值。 测量表场的方法无法准确获得全面的磁参数（如剩磁、矫顽力、磁能 积），通常以上下限标样的中心场资料作为参考资料来进行合格判别。此种方法对 N、M 系列可用，对H 以上系列准确度要差一些。 一般而言可以按照下述公式计算不同尺寸（圆柱或圆片）的中心场： H=Br*K/√（1+ 5.28*K*K）（Gs）式中： Br--标称剩磁 K--圆柱、圆片的长径比或方块磁化方向与另二个方向中较短边长之比。对於长宽相差较大的产品 K=取向长度/SQR（长*宽）更准确的计算公式： H=Br*K/√（1+（4+32/L）*K*K）（Gs） L--方块磁化方向的长度 32--探头的测试系数参数（ 0.5*64） 特斯拉计探头内霍尔片位置的确定： 一般而言，霍尔片只有大约 1*1~2*3 平方毫米左右大小的面积，厚度约 0.3~ 0.5 毫米，且不在探头的最前部，有时需要确定霍尔片的位置，可以采用如下的方法来判断霍尔片的位置： 将探头在充磁产品的表面，此时特斯拉计示值不为零，探头一直向外侧延伸探出，当特斯拉计示值为零时即为霍尔片的前边部，用铅笔或记号笔沿产品的外边界线标记记号；将探头向相反方向延伸（此时探头只有一小部分接触在磁体上），当特斯拉计示值为零时在做记号，两个记号的中位置即为霍尔片的实际位置。确定霍尔片位置时应用直径大於 10~15 毫米的产品。 特斯拉计的优点是可以测试大方块不同位置的表场大小、小圆柱或圆片两个端面的磁场大小，确定一块（个）产品磁性能的一致性。 一、应用磁通计测量 磁通计一般是直接测量探头线圈的磁感应通量，使用较多的是配以霍姆赫兹线圈，此种方法多是与标准样品进行比较，进而进行产品的合格性判定。 磁通计使用之前，一定要按照要求进行预热，使用中要调整好积分漂移， 使漂移量在规定的范围之内。每次测量之前要重定清零，释放掉积分电容的残留电荷或漂移积分电荷。 当磁体的磁路闭合时，可以使用磁通计测量、计算剩磁，具体计算方法是： Br=Φ/N/S 式中： Φ--磁通量N--线圈匝数 S--磁体横截面积 应用磁通计进行产品的合格性检验时，被测样品和线圈的相对位置一定要与标准样品的和线圈的相对位置相同。如果产品的性能范围有严格的要求，应保存上限性能的产品、下限性能的产品，以进行检验定标、检验。 二、应用磁测仪测量 磁测仪测量的磁学资料相对较全，可以测量、记录退磁曲线，获得较为齐全的磁学参数。详细请参照设备的说明书，请恕这裏不做赘述。 异形产品的测量，有时需要制作特殊的工装，测量时要进行特殊的计算， 避免造成测量错误。具体参照磁测仪的说明或有关磁学的资料。 三、 具有不同使用温度要求产品的测量 当产品有使用温度要求的用户，有磁测仪的可以采用先饱和充磁，再在规定的温度之下烘烤或水煮、油煮，然后直接测试、记录退磁曲线。当参数要求更多时可以由供应商提供产品测试曲线或通过第三方进行测试获取有关参数， 不建议用户购置温度特性磁测仪（因其价格较高，也不可能经常使用）。 四、磁测量的有关特别说明 、由於钕铁硼磁性材料固有的不可逆损失的存在，重复测试的结果一般要比首次测试的性能可能偏低一些； 、成品测试之后，很难用施加反向磁场的方法彻底退磁，对於有些产品而言，充磁之后对产品的安装可能带来不便； 、被测样品无法采用磁场的方式退磁，只能进行时效退磁，其他方法的热退磁有可能对材料造成不良影响；热退磁对涂层也有极为有害的影响； 、镀镍的产品，由於镍是铁磁性物质，对原产品的外在性能有降低作用，请客户在产品的涂层选择、性能选择时加以考量。 、无论磁通计、特斯拉计都无法获得完整的磁性能参数； 、测试时样品及环境温度应在 23~25℃的范围内，且测试报告应注明测试时的环境温度。 、一般而言较薄的产品无论电镀与否均较难直接测量各片的磁性能参数，但可采用前面介绍的方法用磁通计测量来测量剩磁，配合特斯拉计测量中心场可以较为可靠地判定N、M 系列产品的性能。 五、关於充磁 在磁体长度接近充磁线圈的情况下充磁时，