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半导体后封装及工艺设备;;传统半导体封装的工艺流程;封装技术发展方向;晶圆级芯片封装WLCSP(Wafer Level Chip Scale Packaging);圆片级CSP产品的封装工艺流程;TSV 技术__第四代封装技术;TSV互连的3D芯片堆叠关键技术;TSV的研究动态;
铜通孔中, TiN粘附/阻挡层和铜种子层都通过溅射来沉积。然而,要实现高深宽比(AR 4∶1)的台阶覆盖,传统的PVD直流磁控技术效果并不令人满意。基于离子化金属等离子体( IMP)的PVD 技术可实现侧壁和通孔底部铜种子层的均匀沉积。由于沉积原子的方向性以及从通孔底部到侧壁溅射材料过程中离子轰击的使用, IMP提供更好的台阶覆盖性和阻挡层/种子层均匀性。由于电镀成本大大低于PVD /CVD,通孔填充一般采用电镀铜的方法实现。
--- 3D封装与硅通孔( TSV)工艺技术;;中国大陆半导体封装测试产业前十大厂商; AMAT endura 5500;Varian 3290 STQ Sputtering System;denton vacuum discovery 635/785;denton vacuum Phoenix ;AJA公司 ATC-B-3400-H;Unaxis公司 LLS EVOⅡ;Unaxis Cluster Line200;TSV1200-S型磁控溅射镀膜机;MSP-3200 型全自动磁控溅射镀膜设备;
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