Verigy93000中直流参数的并行测试方法.docx

PAGE 1 PAGE 1 Verigy93000中直流参数的并行测试方法 摘要：本文阐述了一种在Verigy 93000 上进行直流参数测试的测试方法，并与传统方法进行了比较分析，结果表明该方法在测试中能完全并行使用硬件资源，使测试时间有效降低。 1 引言  在当前SoC 快速进展及半导体行业激烈竞争的阶段，提高测试效率、降低测试成本，是从业者需要思索和解决的课题。  Verigy 93000 是单一平台的可升级测试系统，它是满意SoC 技术全面集成需要的芯片测试系统解决方案。  本论文阐述一种测试方法使得Verigy 93000 进行直流参数测试时独立并行使用硬件资源，从而节约测试时间，提高测试效率。  2 Verigy 93000 用于DC测试的硬件资源  2.1 PMU（parameter measure unit，参数测量单元）  PMU 是Verigy 93000 进行DC 测试常用的硬件资源（如图1 所示）。当前应用广泛的Pinscale测试系统中的PMU 有两种， 一种称为PPMU（Per- Pin PMU），包含在每个数字通道内。依据测试系统的配置结构，大头可以达到2048 个，小头1024个；另一种HPPMU （High Precision PMU，高精度PMU），每个Group 中一个，大头有8 个，小头结构就只有4 个。因此在测试中，只要PPMU 的参数范围和精度满意芯片需求，我们尽可能使用PPMU，并通过合适的编程方法做到硬件资源完全并行使用，加快测试速度。   图1 93000 的PMU 资源  2.2 Verigy 93000 的DPS （DevicePower Supply，芯片供电电源）资源  Verigy 93000 中每块DPS 板卡可以供应8 路电源通道，电源通道除了给芯片供应电源外，还具有加电压测电流的功能，这通常用于芯片的功耗测试。  本文不就此类测试绽开争论。  3 PPMU 资源完全并行使用的测试方法  PPMU 是Verigy 93000 中每一个数字通道都有的硬件资源，它具有加电压测电流（VFIM）和加电流测电压（IFVM）两种功能。应用这两种功能进行DC 测试，通常有两种实现方法。  1） 传统方法：通过调用PPMU 相应的API（可编程应用接口） PMU_VFIM （加电压测电流）和PMU_IFVM（加电流测电压）来实现。但应用这种方法进行测试时，假如不同的管脚需要不同的测试条件，测试时每个管脚是串行执行的，这样机台per- pin 的PMU 资源的优势就没有得到发挥，测试时间会相应增加。  2） Flex DC 测试方式：可以做到使用PPMU 测试不同条件的PIN 时完全独立，互不影响。因此，在使用PMU 进行DC 测试时，为了提高测试效率，增加产出，在测试条件允许的状况下，测试者尽可能采纳这种方法。   两种方法的比较如表1 所示。  表1 两种DC 测试方法的比较   3.1 Flex DC 编程方式的详细实现  Flex DC 测试方法在程序中通过PPMU_SETTING、PPMU_RELAY、PPMU_MEASURE以及TASK_LIST 创建任务列表的方法来实现。此时，我们需要把不同测试条件的PIN 对应的PPMU的工作模式及条件范围、RELAY 的状态、测试结果的猎取分别设定为相同的SETTING、RELAY 和MEASURE 中，然后把上述设定添加到同一个任务列表中。这样， 对于上述SETTING、RELAY 和MEASURE 中的不同pin 包含的动作，机台在执行测试的过程中是完全独立并行的，可以做到资源的利用。  以2 个pin 为例，pin1 测试中需施加5 V 电压测电流，pin2 要施加2.5 V 电压测电流，Flex DC 的代码如下：  PPMU_SETTING set1；  PPMU_RELAY relay1；  PPMU_MEASURE measure1；  TASK_LIST task1；  set1. pin（ pin1 ）。 vForce（ 5 V）。iRange（ 40mA）。min（ 0 mA）。max（ 50 mA）；  set1.pin（ pin2 ）。vForce（ 2.5 V）。iRange（ 40mA）。min（ 0 mA）。max（ 40 mA）；  relay1.pin（pin1, pin2）。status（“PPMU_ON”）；  measure1.pi