LED芯片进料检验标准.docxVIP

精品文档 文件名称 日期 日期 正装芯片进料检验标准 修订记录 修订条款修订内容简 修订条款 文件编号 文件版次 文件页次 QA-WI-064 A/0 第 1 页 共 6 页 修订人 备注 编制/日期： 审核/日期： 批准/日期： 会签 □总经办 □体系课 □运营中心 □财务中心 □项目办 □照明 (SMD) □营销中心 □人力资源 □灯丝 □市场部 □行政 □插件 □研发 □事业部 □COB □资材中心 □品保 □工程 □采购 □工程设备处 □设备 □仓库 □OJT □IE 本资料为源磊科技有限公司之所有财产，未经书面许可——不准透露或使用本资料，亦不准复印、复制或转变成其它 形式使用。 精品文档 外 外 观 检 测 文件编号 QA-WI-064 文件名称 正装芯片进料检验标准 文件版次 A/0 文件页次 第 2 页 共 6 页 1. 目的 规范公司内 LED 正装芯片检验判定标准。避免不合格原材料流入产线，提高生产良率。 2.范围 适用于公司 LED 正装芯片类产品 3.定义 CR ：功能不正常﹑严重影响信赖性或严重影响成品规格或严重影响客户作业等。 MA：成品质量有明显性或潜在性的影响而不能正常使用。 MI ：使用上有一定的影响，但不是功能上的影响。 4.权责 品保部：品质标准的建立、修改、执行及相关品质记录。 5.内容 5.1 抽样依据：依照《MIL-STD-105E》并结合实际情况。 5.2 必须是合格供应商，承认书和环保资料齐全，才可进行下一步，否则拒绝检验。 5.3 检验标准: 检验项目 资料 检查 包装标识 电极 变色 电极 色差 探针 痕迹 检验项目 检验内容及标准 1.型号、数量、参数与送 货单据一致 1.包装完好，纸盒整齐、 芯片静电袋、 蓝膜完好无 破损，无受潮现象 2.可使用期限必须在保 质期内一半及以上 芯片正负极氧化变色 允收标准：不可有 同一片中不同芯片间和 一颗芯片正负电极间颜 色差异大 允收标准：不可有 电极上探针痕迹不得超 过电极面积的 1/3，不可 露底材， 不可偏移超过电 极范围 检验内容及标准 不良图示及说明 无 无 不良图示及说明 抽样水准 全检 包装全检， 蓝膜抽 10 张检查 10 张蓝膜/ 批 10 张蓝膜/ 批 10 张蓝膜/ 批 抽样水准 检验方法、工具 目视 送货单 目视 显微镜*20 显微镜*20 显微镜*20 检验方法、工具 缺陷 CR CR MA MA MA 缺陷 精品文档 外 外 观 检 测 文件编号 QA-WI-064 文件名称 正装芯片进料检验标准 文件版次 A/0 文件页次 第 3 页 共 6 页 切割 不良 电极 刮花 芯片破损、增生、形状大 小不规则、裂纹， 允收标准： 芯片破损(增生)面积≤ 1/5 芯片面积, 裂纹不可有。 芯片表面的电极区域有 刮伤的痕迹 允收标准： 电极区： 芯片任一电极刮 伤面积＜该电极面积的 1/5 非电极区： 非电极区刮伤 面积＜该芯片面积的 1/4 且不可损伤到 PN 结。 10 张蓝膜/ 批 10 张蓝膜/ 批 显微镜*20 显微镜*20 MA MA 芯片表 面脏污 芯片表面有污染痕迹 允收标准： 电极区： 污染面积＜该电 极面积的 1/5 非电极区： 污染面积＜该 芯片面积的 1/4 10 张蓝膜/ 批 显微镜*20 MA 1.电极脱落，有缺口 允收标准： 掉电极 排列 方向 错误 检验项目 不可有 10 张蓝膜/批显微镜 10 张蓝膜/ 批 显微镜*20 CR 允收标准：距离电极 1/2 以内脱落不可接受 10 张蓝膜/批 10 张蓝膜/ 批 显微镜*20 CR 排(列)与其他多数材料 排列方向相反， 排列不整 齐 不良图示及说明抽样水准检验方法、工具 不良图示及说明 抽样水准 检验方法、工具 缺陷 精品文档 外 观 外 观 检 测 尺 寸 检 测 性 能 文件编号 QA-WI-064 文件名称 正装芯片进料检验标准 文件版次 A/0 文件页次 第 4 页 共 6 页 表面 多金 外表 漏洞 芯片 尺寸 芯片表面任何地方有多 出的残金 允收标准：不可有 芯片任何部位有漏洞、 烧 黑或其他疑似击穿现象 允收标准：不可有 每批抽 10PCS 检验芯片 的长、宽，及电极正负极 尺寸是否在规格范围内 校正过的厂商芯片每批 抽 0.5K 测试