高数模转换器的温漂研究.docx

PAGE 1 PAGE 1 高数模转换器的温漂研究 抱负的数/模转换器（DAC），其输出电压或电流与输入呈抱负的线性关系，不受其它外部因素（如温度）的影响。当然，实际应用中，DAC必定会受各种外部因素的影响而消失误差，温度就是一个明显因素，DAC输出会随温度的变化而漂移。当用高精度DAC建立偏置电压时，这一点尤为重要。我们可以校准全部静态漂移，而随温度变化部分却很难补偿，温度引起的误差主要是：失调误差和增益误差。 本文介绍了如何确定DAC的失调误差、增益误差与温度的关系，关心设计者在设计过程中预先考虑这些误差因素，把握这些学问也有助于保证系统在温度特性方面满意规范要求。  失调和增益误差  如上所述，许多误差因素会影响DAC性能，比如失调误差和增益误差，DAC器件数据手册的“静态精度”参数部分显示了这些因素的影响。图1为MAX5134 16位、4通道DAC的规格。  注4:增益和失调测试，测试点位于100mV和AVDD   图1:MAX5134的失调和增益误差。  这些参数对DAC性能意味着什么？  失调误差通常定义器件在过零点时的输出，对于单极性输出，该值是零码对应的输出，通常称为零码误差；对于双极性输出，则定义在中间码值对应的DAC输出。  增益误差是传输函数的斜率，对于MAX5134,斜率介于理论值的99.5%-100.5%之间。  图2给出了失调误差和增益误差，留意，失调和增益误差可以为正，也可以为负。   图2:失调和增益误差。  通常我们不会直接测量失调和增益误差，假如一个单极性器件表现出负的失调误差，零码处的测试结果明显不正确。由于单极性DAC通常采纳单路正电源供 电，DAC将无法产生负值。可以测试两个点，然后计算得到失调和增益误差，一个测试点靠近零码，另一侧试点靠近码值，甚至位于码值。对于MAX5134,可以选择100mV和电源AVDD两个测试点，测试条件参见图1解释4 （注4:增益和失调测试，测试点位于100mV和AVDD,参见MAX5134数据手册，可从Maxim网站）。  下面考虑温度的影响，失调误差和增益误差都会随着温度的变化发生漂移，对于那些利用DAC精确?????设置偏置电压的应用，温漂的影响更大。假如失调和增益误差固定，则可通过多种技术进行校准。总的来说，温漂校准是一项特别简单的工作，首先需要测量温度，然后依据温度值实行相应的补偿。  计算示例和典型结果  此处以MAX5134为例，通过对大量器件的评估统计，我们可以得到静态误差。我们先定义几个概念或等式，以便计算误差范围。  VOUT = N × G × （GE + GET） + OE + OET   此处：VOUT = 输出电压  N = DAC输入码值  G = DAC增益  GE = DAC增益误差  GET = 温度变化产生的附加增益误差  OE = DAC失调误差  OET = 温度导变化产生的附加失调误差  VREF = 基准电压  NMAX = DAC码值   参数的失调误差漂移是±4μV/℃，采纳箱形法。为了确定温度失调，可以利用温漂系数乘以温度范围，留意，此处的温度范围指的是器件规定的工作温度范围，而非实际应用的温度范围，本例即为：-40℃至+105℃，而温度导致的失调漂移为±0.58mV.同样，增益温漂系数是2ppm/℃，相当于±0.029%FS（满量程）。  对个例子，我们采纳2.5V基准电压VREF,DAC是16位器件，即码值NMAX为65535.  另一个问题是使用的便捷性，把失调和增益误差指定为“/”值，而温度影响只能定义为典型值。我们可以用典型值或凭阅历估量整个范围内的变化状况，此处采纳典型值。  图3所示曲线为初始误差输出电压与输入码之间的关系图。这是一个实际DAC器件的特性曲线，这组曲线比图2靠得更紧，不易分析，全部画出它们与抱负曲线之间的偏差，如图4所示。图4也给出了包括温度影响的整体误差。   图3:DAC输出与输入码之间的关系图，显示了增益、失调误差的影响，基准电压为2.5V.   图4:DAC输出误差与输入码之间的关系，基准电压为2.5V.  从图中可以看出，温度的影响远低于初始误差，所以，即使数据手册只给出了温度特性的典型值，也不会对整体误差产生显着影响。零码处的整体误差为±0.423%FS （±10.6mV），输入码处的整体误差为±0.952%FS （±23.8mV）。  可以实行一些改