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SPC相关术语 1. Xi ：实测数据, X1…X5 是指一个样组中的5个实测数据 2. Xbar：表示5个数据的平均值，即：X =（ X1…+X5）/5 3. T：表示公差值，即：公差值 = 规格最大值 – 规格最小值（T=USL – LSL） 4. μ：表示规格中心值，即：规格中心值=（规格最大值+规格最小值）/2，μ=（USL+LSL）/2 5. R：表示极差值，即：极差值 = 样组中之最大值– 样组中最小值 6. Rm：表示样组之极差值，即：第二组Rm值=第二组X值 – 第一组X值，依此类推。 7. Cpk：表示制程能力指数。 8. s：样本标准差 。 第六十二页，共一百一十五页。 一、数据分类 计数值数据以个数计算的数据或数据是间断的,不连续的. 例:不良数, 检验批等. 计量值数据可以连续量测的数据或数据呈连续性. 例: 尺寸, 插拔力等. 二、数据变异 测量值 \ 真值 误差 : 系统误差 偶然误差 测定误差(人,仪器,时,地) 抽样误差 管制图基本概念 第六十三页，共一百一十五页。 普通原因：是造成随着时间推移具有稳定的且可重复的分布过程中的许多变差的原因，我们称之为：“处于统计控制状态”、“受统计控制”，或有时简称“受控”，普通原因表现为一个稳定系统的偶然原因。只有变差的普通原因存在且不改变时，过程