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0.?? 引 言
CCD和CMOS是图像传感器的典型代表，被广泛应用于军事侦察成像、精确制导及激光雷达等领域[1]。激光是对抗光电侦察探测的有效方式，开展激光对图像传感器的损伤效能研究，对提高光电对抗能力具有重要意义[2-3]。目前，学者对激光损伤CCD和硅材料的研究较多，分别有连续激光、脉冲激光以及不同脉宽、能量密度、作用时间等对CCD或硅材料损伤效应及机理的研究[4-12]。近年来，已有学者开展激光辐照CMOS图像传感器的干扰效应[13-14]、损伤效应[15-16]以及对CCD、CMOS辐照的对比性研究[17-20]，并开展了宽谱光源干扰效应[21-22]等方面的研究，但是尚无利用复合激
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