第三章工艺尺寸链第四章工艺尺寸链.pptVIP

在大批大量生产中，一个尺寸链中的各组成环尺寸的获得，彼此并无关系，因此可将它们看成是相互独立的随机变量。相互独立的随机变量。经大量实测数据后，从概率的概念来看，有两个特征数： 　（1）算术平均值 ——这数值表示尺寸分布的集中位置。　（2）均方根偏差 δ ——这数值说明实际尺寸分布相对算术平均值的离散程度。 概率解法的数学依据： 独立随机变量之和的均方差为: 其中： 这是用概率法解尺寸链的数学基础，它反映了封闭环误差与组成环误差间的基本关系。 第三十一页，共七十六页。 1. 各环公差计算 由于尺寸链计算时，不是均方根偏差间的关系，而是以误差量（或公差）间的关系来计算的，所以上述公式需改写成其它形式。当零件尺寸为正态分布曲线时，其偶然误差ε与均方根误差σ间的关系，可表达为： 反映了封闭环误差与组成环误差间的基本关系。 若尺寸链中各组成环的误差分布，都遵循正态分布规律时，则其封闭环也将遵循正态分布规律。若取公差带T=6σ，则封闭环的公差与各组成环的公差关系可表示为： ε=6σ 即： 正态分布各环公差计算公式 第三十二页，共七十六页。 当零件尺寸分布下为非正态分布时，封闭环公差计算时须引入“相对分布系数K”。K表示所研究的尺寸分布曲线的不同分布性质，即曲线的不同分布形状。 非正态分布时各环公差计算： 各种K值可参考图表： 正态分布时： 非正态分布时： 所以，封闭环公差的一般公式为： 第三十三页，共七十六页。 一些尺寸分布曲线的K及e值 第三十四页，共七十六页。 若各组成环公差相等，即令Ti = TM 时，则可求得各环的平均公差为： 在计算同一尺寸链时，用概率解法可将组成环平均公差扩大 倍。 概率解法与极值解法的比较： 极值解法： 但实际上，由于各组成环通常未必是正态分布曲线，即Ki1 ,故实际所求得的扩大倍数比 小些。 第三十五页，共七十六页。 极值解法时的 ，是包括了封闭环尺寸变动时一切可能出现的尺寸，即尺寸出现在范围内的概率为100%；而概率解法时的 ，是正态分布下取误差范围内的尺寸变动，即尺寸出现在该范围内的概率为99.73%，由于超出之外的概率仅为0.27%，这个数值很小，实际上可认为不至于出现，所以取作为封闭环尺寸的实际变动范围是合理的。 用概率解法可将组成环平均公差扩大 倍的原因： 第三十六页，共七十六页。 基准不重合时的尺寸换算包括：　　①测量基准与设计基准不重合时的尺寸换算；　　②定位基准与设计基准不重合时的尺寸换算。 §3.3 工艺过程尺寸链 工艺尺寸链正确地绘制、分析和计算工艺过程尺寸链，是编制工艺规程的重要手段。下面就来看看工艺尺寸链的具体运用。 一、基准不重合时的尺寸换算 第三十七页，共七十六页。 1.测量基准与设计基准不重合时的尺寸换算 　　测量基准与设计基准不重合的尺寸换算在生产实际中是经常遇到的。如图所示： 图中要加工三个圆弧槽，设计基准为与Φ50同心圆上的交点,若为单件小批生产，通过试切法获得尺寸时，显然在圆弧槽加工后，尺寸就无法测量，因此，在拟定工艺过程时，就要考虑选用圆柱表面或选用内孔上母线为测量准来换算出尺寸。 设计基准 第三十八页，共七十六页。 解：以Φ50下母线为测量基准时，可画出如下尺寸链： 在该尺寸链中，外径是由上道工序加工直接保证的，尺寸t应在本测量工序中直接获得，均为组成环；而R5是最后自然形成且满足零件图设计要求的封闭环。 故该尺寸链中，外径是增环，t是减环。 求基本尺寸： ∴t＝ 45 求t 的上、下偏差 ： ∴Δx t＝0 ∴Δs t＝+0.2 故测量尺寸t为： 验算：T5=T50+T45，即0.3=0.1+0.2 第三十九页，共七十六页。 同理，以选内孔上母线C为测量基准时，可画出如下尺寸链： 这时，外圆半径为增环，内孔半径及尺寸h为减环，R5仍为封闭环。 计算后可得h的测量尺寸为 ： 第四十页，共七十六页。 2．定位基准与设计基准不重合时的尺寸换算 图中：设计尺寸为：350 ± 0.30。设计基准为下底面，为使镗孔夹具能安置中间导向支承，加工中以箱体顶面作为定位基准。 此时，A为工序尺寸。则A的计算为： 基本尺寸：A=600-350=250 又因为： 即： 由于尺寸350和600均为对称偏差，故：A＝250±0.10 第四十一页，共七十六页。