工序质量控制.pptxVIP

会计学;7.1 工序质量波动及其规律性;第三章 质量控制及其常用技术;;; 2.泊松分布 ; ; 3.正态分布 若x为一正态随机变量，则x的概率密度为 正态分布 标准正态分布;σ=0.5; μ-3σ μ-2σ μ-1σ μ μ+1σ μ+2σ μ+3σ; 将 P{x≤c} 转换成标准正态分布，则 P{x≤c}=p｛Z ≤ (c-μ)/σ｝=Φ((c-μ)/ σ) 例题：包装纸的抗拉强度是一个重要的质量特性。 假定包装纸抗拉强度服从正态分布，其均值为μ=3.0㎏/cm2, 标准差为σ=0.2㎏/cm2。现购买厂家要求包装纸抗拉强度不低于 2.5㎏/cm2，问购买该种包装纸能满足厂家要求的概率是多少？ 解：满足厂家要求的概率为 p｛x≥2.5｝=1-p｛ x≤2.5 ｝ 而p｛x≤2.5｝=p｛z≤(2.5-3.0)/0.2｝=1-Φ（2.5） 所以p｛x≥2.5｝= Φ（2.5）=0.99379; 一、工序质量的两种状态 1.受控状态 ; 2.失控状态 质量特性值的分布特性发生变化，不再符合质量规格要求。; ;·; 二、工序质量状态识别（统计推断）; 一、工序能力分析 受控状态下工序对加工质量的保证能力，具有再现性或一致 性的固有特性。 工序能力 B=6σ 其中 σ=（σ人2 +σ机2+σ料2 +σ法2 +σ环2 +σ测2）0.5 工序能力测定 前提：被调查的工序是标准化，进入管理状态；样本容量即数 据数目不得少于50。 方法：①B=6s=6R/d2 ②B≈2R 二、工序能力指数 CP=T/6σ T为公差； 6σ表示工序能力; 1.工序能力指数的计算 ①工序无偏，双向公差 X（平均值）=TM= （TU+TL）/2 PU、PL分别表示超上差和超下差的不合格率 PU=P（X TU ） PL=P（XTL） CP=T/6σ=（TU-TL）/6s; ②工序有偏，双向公差 偏移量?=TM-x k=?/T/2=2（TM-x）/T （ ?取绝对值） CPk=（1-k）CP=（T-2?）/6s （ k≤1） ; ③单向公差 只要求控制公差上限时 CPU=（TU-X）/3s 只要求控制公差下限时 CPL=（X–TL）/3s 2.不合格率的计算 ①工序无偏时的不合格率p p=2Φ（-3 CP） ②工序有偏时不合格率p p=Φ〔-3CP（1+k）〕+Φ〔-3CP（1-k）〕 ; 三、工序能力的判断及处置 ;例题： 某零???内径尺寸公差为Φ20+0.020-0.010，从一足够大的随机样本 得x（平均值）=20.014，s=0.002。试作工序能力分析 解： 公差中心TM= （TU+TL）/2=（20.02+19.99）/2=20.015 由于x（平均值）=20.014，所以 ?=TM-x（平均值）=0.001 偏移值k=?/T/2=0.001/0.01/2=0.200 因此，CPk=（T-2?）/6s=0.67 CP=（TU-TL）/6s=0.010/6×0.002=0.833 所以不合格率 P=Φ〔-3CP（1+k）〕+Φ〔-3CP（1-k）〕 =Φ（-3.00）+Φ（-2.00）=0.00135+0.0228=0.0242 根据CPk=0.67可知，工序能力在第四等级，处于严重不足的状 态。;7.4 工序质量控制图; 2.两类错误 ①第Ⅰ类错误——虚发警报：生产正常，点子出界。 错误的概率用α表示。 ②第Ⅱ类错误——漏发警报：生产异常，点子未出界。 错误的概率用β表示。 ; 3.分类 ①计量值控制图 平均值—极差控制图 中位数—极差控制图 单值—移动极差控制图 ②计数值控制图 不合格品数控制图 不合格品率控制图 缺陷数控制图 单位缺陷数控制图; 二、几种常用的控制图 1.计量值控制图 某种钻头车外圆工序的质量标准是直径6.46~6.50