反场构型平面薄膜电爆炸等离子体电流通道.docx

1.?? 引　言 Z箍缩的研究涉及多物理过程的复合[1,2], 电流通道的建立与演化是其中基础而极为重要的课题之一[3]. 该课题对于研究能量馈入启动相变[4,5]、动力学发展过程[6,7]、不稳定结构源[8,9]以及开展Z箍缩磁流体数值模拟研究[10]等皆具有重要价值. 帝国理工大学的研究者在丝阵负载研究中指出平面丝阵构型下丝与丝之间的电感耦合决定了其电流分布, 导致在不同丝位处融蚀等离子体速率产生差异, 从而影响丝阵动力学演化过程[11,12]. 调制负载实验显示周期刻蚀结构的引入可导致趋肤电流分布特征改变, 并影响电热不稳定结构的种源特征, 从而实现对等离子体不稳定结构的定向调控[13]