ATPG自动测试生成模式.pptVIP

关于ATPG ATPG经典算法 基于SAT的ATPG ATPG概述 DFT介绍 DFT ATPG概述 ATPG算法 SAT ATPG DFT: 全称是 Design For Test，可测试性设计，是在芯片设计过程中，加入可测性逻辑，生成测试向量，达到测试大规模芯片的目的。 “测试”与“验证”的区别： 验证（Verification）的目的是检查设计中的错误，确保设计符合其设计规范和所期望的功能； 测试（Testing）则是检查芯片的加工制造过程中所产生的缺陷和故障。 芯片测试主要环节： 故障建模；对电路中可能存在的故障进行建模分析； 测试向量生成; 利用各种集成有 ATPG 算法的工具生成测试向量； 测试向量施加；把测试向量施加到被测电路上，相应的在被测电路的输出产生测试响应； 测试分析; 比较理想结果和对应测试响应是否一致，根据比较的结果是否一致来确定芯片是否合格； DFT ATPG概述 ATPG算法 SAT ATPG ATPG: 自动测试模式生成(Automatic Test Pattern Generation），是采用算法程序自动生成测试向量的方法；主要利用 ATPG 的相关算法对芯片的故障进行检测，生成一组可以检测芯片故障的测试向量 测试向量生成需要 EDA厂家的 ATPG 工具，用工具来选择建立哪种故障模型, 然后 ATPG 工具将分别根据各种故障模型生成相应的测试向量。 测试向量（集）：测试向量使得故障电路模块和正确电路模块的输出不同； ATPG算法评估标准：一个好的工业级ATPG算法应能够在更短的时间内，产生更少的测试向量数， 并获得更高的测试覆盖率，使得测试成本更低。 故障模型：是一种抽象模型，用逻辑故障来表示物理故障对模型造成的影响，将原本物理问题的故障分析变成了逻辑问题。 常见故障模型： 单阻塞故障模型； 桥接型故障模型； 断开型故障模型； 延时型故障模型； DFT ATPG概述 ATPG算法 SAT ATPG ATPG代数 布尔代数由0和1组成，用于研究数字电路的行为。有故障的电路：一位布尔代数（0或1）不足以表示和研究有故障的电路。s-a-0故障——在输出表示为D (1/0)；s-a-1故障——在输出端表示为D( 0/1) Roth五值代数{0,1,X,D,D}表示故障电路 1 ∧ D = D; 1 ∧ 1=1, (ii) 1 ∧ 0=0 0 ∨ D =D; 0 ∨ 0=0, (ii) 0 ∨ 1=1. D ¬ =D; X ∧ 1 =X DFT ATPG概述 ATPG算法 SAT ATPG AGTP 算法首先给电路插入一个故障，然后通过各种机制激活故障，并将它产生的响应通过硬件传播到电路的输出端，输出信号与无故障电路的期望值不同，这样就可检测到这个故障。 ATPG算法 常见的ATPG算法包括：穷举法, 随机向量生成法, 布尔差分法, 路径敏化法, 基于SAT的ATPG, 基于现代优化算法的ATPG 穷举法：对一个有 n 个输入的组合电路来说，则需要进行2n个输入向量; 随机向量生成法：随机测试向量生成法就是不断的随机生成测试数据直到找到一个有用的输入或 达到资源限制； 布尔差分法: 将电路描述抽象为数学表达式，将测试的过程归结为布尔方程求解过程； 路径敏化法：由3个步骤组成：故障敏化、故障传播、线确认；D算法、PODEM、FAN; 基于SAT的ATPG：利用高效SAT求解器求解ATPG问题，将SAT算法与ATPG方法结合； 基于现代优化算法的ATPG：禁忌搜索，模拟退火，遗传算法，蚁群优化，人工神经网络等； DFT ATPG概述 ATPG算法 SAT ATPG D算法是1966年由IBM的Roth开发的第一个确定性ATPG算法，用于组合电路；保证在存在故障的电路中找到测试向量； D算法采用五值逻辑(0,1,X,D,D)来描述电路中各信号线在故障情况下的状态； 主要分3个过程：故障敏化、故障传播和线值确认 故障敏化: 对于一个固定故障通过驱动将它的信号成为与故障相反的逻辑值来激活； 故障传播：将故障响应通过一条或多条路径传播到电路输出端。 线确认：目标是求得电路中尚未确定的信号值， 注意：上述赋值过程出现冲突时进行回溯； 经典路径敏化法——D算法、PODEM、FAN介绍 D算法的改进算法PODEM和FAN；都是基于隐式枚举的算法； 1）PODEM 算法运用隐式枚举和分支限界法优化搜索过程； 解决按什么变量次序来穷举输入向量能较快地得到测试向量；PODEM 算法缩小了搜索空间； 2）FAN 算法在搜索过程中采用更多的启发性信息和电路结构信息，主要从减少回溯次数和缩短两次回溯之间的处理