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[材料分析方法]11 X射线微观应力分析-非晶分析.pdfVIP

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  • 2022-12-23 发布于重庆
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[材料分析方法]11 X射线微观应力分析-非晶分析.pdf

    第八章 亚晶粒大小 和 显微畸变的测定 8.1 晶粒尺寸测定 晶粒细化与线形宽化的关系—谢乐公式 晶粒细化引起的线性宽化（m ），可以Scherrer公式表示： 0.89 m D cos 公式推导的前提：晶粒尺寸小于

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