一种晶棒平整度的检测装置.pdfVIP

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  • 2023-02-02 发布于四川
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本实用新型提供了一种晶棒平整度的检测装置,所述检测装置包括:样品台,所述样品台用于放置待测晶棒;底座,所述样品台水平滑动设置于所述底座上;千分表,所述千分表设置于底座的正上方;升降装置,所述升降装置包括升降台,所述升降台上设置有固定千分表的夹持部。本实用新型通过升降装置控制千分表上升和下降,且通过控制样品台的水平移动,可将所述晶棒不同测试点位于千分表的正下方,获取所述晶棒的不同测试点的数值,可以满足不同尺寸晶棒表面的平整度测试,利用该装装置检测晶棒平整度的准确度高,且效率高。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 212340154 U (45)授权公告日 2021.01.12 (21)申请号 202020863575.7 (22)申请日 2020.05.21 (73)专利权人 山东天岳先进科技股份有限公司

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