电子显微技术.ppt

  1. 1、本文档共100页,可阅读全部内容。
  2. 2、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
  3. 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  4. 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多
SEM——扫描电镜应用实例 断口形貌分析 纳米材料形貌分析 在微电子工业方面的应用 第六十三页,共一百页。 SEM——扫描电镜应用实例 1018号钢在不同温度下的断口形貌 第六十四页,共一百页。 SEM——扫描电镜应用实例 ZnO纳米线的二次电子图像 多孔氧化铝模板制备的金纳米线的形貌(a)低倍像(b)高倍像 第六十五页,共一百页。 SEM——扫描电镜应用实例 (a)芯片导线的表面形貌图, (b)CCD相机的光电二极管剖面图。 第六十六页,共一百页。 STM——扫描遂道显微镜 利用量子理论中的隧道效应,由于所产生的隧道电流强度对针尖与样品表面之间的距离非常敏感,当探针在样品表面扫描时,它将感觉到样品表面微观形貌的高低,甚至原子和分子的高低,以及表面的电子状态。将得到的信息采集起来,再通过计算机信息处理,就可以得到样品表面能显示原子和分子的纳米级三维表面形貌图像。 原理 第六十七页,共一百页。 STM——扫描遂道显微镜 恒电流模式 恒高度模式 测量的工作模式 第六十八页,共一百页。 STM——仪器构造 显微镜主机:是实现探针在试样表面扫描检测的机械系统,是STM的核心。 探针系统——探针连在三维压电陶瓷扫描管上,可做垂直微升降和X、Y方向扫描,探针-试样间加偏压,以形成隧道电流。 粗调系统——用于探针-试样间距离的粗调。 隔振系统——避免检测时受到振动的干扰。 控制系统:如隧道电流的反馈控制等。 信号处理和图像显示系统:主要是计算机和各种软件处理系统。 第六十九页,共一百页。 STM——结构示意图 第七十页,共一百页。 TEM——样品制备 1、超薄切片: 将包埋块中的生物样品切成一定厚度的薄片,在透射电子显微镜下观察细胞的细微结构。以了解不同结构形态、不同功能的细胞内部结构和成分。 2、冷冻复型: 一种制备透射电子显微镜样品的方法。也可称为冷冻断裂或冷冻蚀刻技术。在生物、化学科学等领域,是一项重要的实验技术。 第三十一页,共一百页。 TEM——样品制备 超薄切片技术主要包括取材、固定、包埋、切片、染色等步骤。 第三十二页,共一百页。 TEM——样品制备 化学固定 防冻保护 样品冷 冻和断裂 冷冻蚀刻 和冷冻复型 复型膜剥 离和捞膜 冷冻复型技术流程 第三十三页,共一百页。 透射电镜的主要部件——物镜光阑 物镜光阑又称为衬度光阑,通常它被放在物镜的后焦面上。 常用物镜光阑孔的直径是20~120μm范围。 电子束通过薄膜样品后产生散射和衍射。散射角(或衍射角)较大的电子被光阑挡住,不能继续进入镜筒成像,从而就会在像平面上形成具有一定衬度的图像。光阑孔越小,被挡去的电子越多,图像的衬度就越大,这就是物镜光阑又叫做衬度光阑的原因。加入物镜光阑使物镜孔径角减小,能减小像差,得到质量较高的显微图像。 物镜光阑的另一个主要作用是在后焦面上套取衍射束的斑点(即副焦点)成像,这就是所谓暗场像。利用明暗场显微照片的对照分析,可以方便地进行物相鉴定和缺陷分析。 第三十四页,共一百页。 透射电镜的主要部件——选区光阑 选区光阑又称场限光阑或视场光阑。 为了分析样品上的一个微小区域,应该在样品上放一个光阑,使电子束只能通过光阑限定的微区。 对这个微区进行衍射分析叫做选区衍射。由于样品上待分析的微区很小,一般是微米数量级。制作这样大小的光阑孔在技术上还有一定的困难,加之小光阑孔极易污染,因此,选区光阑都放在物镜的像平面位置。这样布置达到的效果与光阑放在样品平面处是完全一样的。但光阑孔的直径就可以做的比较大。如果物镜的放大倍数是50倍,则一个直径等于50μm的光阑就可以选择样品上直径为1μm的区域。 选区光阑同样是用无磁性金属材料制成的,一般选区光阑孔的直径位于20~400μm范围之间,它可制成大小不同的四孔一组或六孔一组的光阑片,由光阑支架分档推入镜筒。 第三十五页,共一百页。 SEM(扫描电子显微镜): 扫描电子显微镜的简称为扫描电镜,英文缩写为SEM (Scanning Electron Microscope)。它是用细聚焦的电子束轰击样品表面,通过电子与样品相互作用产生的二次电子、背散射电子等对样品表面或断口形貌进行观察和分析。现在SEM都与能谱(EDS)组合,可以进行成分分析。所以,SEM也是显微结构分析的主要仪器,已广泛用于材料、冶金、矿物、生物学等领域。 第三十六页,共一百页。 SEM——原理 利用扫描线圈使电子束在样品表面进行扫描,由于高能电子束与样品物质的相互作用,产生二次电子发射(以及其它物理信号),二次电子发射量随试样表面形貌而变化。利用二次电子信息对样品表面的组织或形貌进行检测、分析和成像。 样 

文档评论(0)

虾虾教育 + 关注
官方认证
内容提供者

有问题请私信!谢谢啦 资料均为网络收集与整理,收费仅为整理费用,如有侵权,请私信,立马删除

版权声明书
用户编号:8012026075000021
认证主体重庆皮皮猪科技有限公司
IP属地重庆
统一社会信用代码/组织机构代码
91500113MA61PRPQ02

1亿VIP精品文档

相关文档