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一种基于集成电路测试用限位结构.pdfVIP

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  • 2023-02-27 发布于北京
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一种基于集成电路测试用限位结构.pdf

    本实用新型公开了一种基于集成电路测试用限位结构，包括夹持框和稳定夹持机构，所述稳定夹持机构设置在夹持框的内部，所述夹持框为凹字形状设置；所述稳定夹持机构包括贴合在夹持框内部的撑托块，所述夹持框内部的左右两侧均开设有滑动仓，所述夹持框内壁的两侧均开设有与滑动仓连通的伸缩道，所述伸缩道的内部滑动连接有若干个均布的夹持杆。本实用新型通过设置稳定夹持机构，利用磁力同极相斥的原理，可通过受力板和夹持杆推动夹持条夹持在电路板的两侧，进而完成对集成电路板的夹持，而磁力的夹持相较于现有弹簧的夹持稳定性高很多，进

    (19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 218524763 U (45)授权公告日 2023.02.24 (21)申请号 202222528650.6 (22)申请日 2022.09.23 (73)专利权人 深圳市金道微电子有限公司 地址

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