光电子器件 (第3版) 课件 第10、11章 紫外探测与成像器件、 X射线探测与成像器件.ppt

（4） 使用激发荧光（IP）板 来代替增感屏+胶片组合, 该荧光板经X照射后会有电子激发从而得到对应的X射线强弱影像信息, 经激光束扫描获得光信号, 再由模/ 数转换而成数字信息，如图 11-4。 CR（Computed Radiography）成像技术。 （5） 在荧光屏上集成光电二极管阵列，将图像转换成数字图像，该技术属于间接数字X线影像（Indirect Digital Radiograph，IDR）技术，后面将详述。 荧光转换屏的重要特性： 1）对于不同的荧光转换屏输出显示方式，应选择特定的不同的荧光粉，以使荧光屏发光光谱分布与其后续接收器之间达到最佳的光谱匹配，因此荧光屏发光光谱分布是荧光转换屏的重要特性。 2）X射线荧光屏的荧光亮度转换效率. 3) X射线荧光屏的鉴别率。 亮度转换效率和鉴别率二者所需工艺途径往往是相互矛盾的。为了提高转换效率，常采用增大粉粒粒度、加厚粉层厚度、选择多重元素的粉材料和加镀Al膜等措施，但却因此降低了屏的鉴别率。 实际上，需根据具体要求，做适当的折衷处理。新近出现了多种材料和荧光屏制作专利， 例如，用真空沉积方法生长的阵列单晶荧光屏，兼顾了高光效（因为是单晶，非辐射复合损失大大减少了）和高分辨（因为是阵列，各像元之间串光干扰小、对比度明显提高了）的双重优点。 表11-1列出了一些X射线与γ射线荧光粉的主要特征。 3．　X射线影像增强器成像法 由于在许多应用中，往往需要减少X射线的剂量，这就必须将X射线图像增强。X射线影像增强器成像技术有两种方式： 1）利用X射线光电阴极，X射线激发光电子，然后将光电子像增强转换成可见光图像,再通过光学系统将光学图像耦合到电视摄像机上形成可实时观看的视频信号。X射线光电阴极有反射式和透射式两种。 2）利用X射线转换屏，将转换荧光粉与可见光光电阴极做成一体，荧光粉发出的光致使光电阴极发射光电子，将光电子像增强成像在输出荧光屏上，而后，通过光学系统将光学图像耦合到电视摄像机上形成可实时观看的视频信号。该技术虽然利用了荧光转换屏的原理，但将其放在此类合理一些。 X射线像增强器本文将详述。 4．　直接数字化成像法 直接数字X线影像(Direct Radiograph，DR 或 Direct Digital Radiograph，DDR)技术将X射线光直接转换成电子信号，然后再转换成图像。该法将详述。 根据将X射线转换为图像的方式，可以将X射线影像方法分为直接法和间接法，如表11-2。 图中三种形式分别为照相胶片法、像增强器法和直接影像法。 11.3 X射线成像器件系统的性能指标 可以用多项技术性能指标来评价X射线成像器件和系统的质量特性，例如输出亮度、分辨率、调制传递函数、灵敏度、最高承受电压、系统的稳定性、系统的连续工作时间、图像的采集和图像处理速度、检测效率、图像一次性检测范围（长度×宽度）、图像的动态范围、系统抗干扰性、系统的工作寿命、系统的价格性能比等多项指标。下面简述X射线成像器件与系统的性能指标。 1．亮度B 它表示物体的明亮程度。在其他条件相同的情况下，亮度越高表示发出的光通量越多，单位为cd/㎡，可用亮度计进行测量。 2．分辨率 分辨率定义为单位长度上的周期数，单位为线对/毫米（lp/mm）。鉴于X射线穿透力较强，分辨率测试卡要用镀铅测试卡。 由于X射线成像系统的分辨率低，还用线对/厘米（lp/cm）来表示。 分辨率是器件和系统的重要指标，系统中的每一个子系统发生变化，都会引起系统分辨率综合性能的变化，所以，抓住了系统分辨率这个综合指标，就等于抓住了X射线实时成像系统的关键。 系统分辨率指标是X射线成像系统性能的综合反映，系统分辨率越高，表示系统的技术性能越好。 系统分辨率是系统设备客观性能的反映，仅与系统的构成及其性能有关，与检测工艺方法无关，所以，系统分辨率也称为固有分辨率。 随着系统设备的老化，系统分辨率也会衰退，因此，对系统分辨率应定期进行测试。系统分辨率可以用分辨率测试卡直接在系统中测试出来。 3. 调制传递函数 与分辨率表示图像的分辨本领相比，调制传递函数（MTF）作为系统质量或图像质量（信息）的客观评价依据，更能全面反映成像系统的分辨本领， 4.亮度转换因子C 定义为单位剂量的X射线照射下，成像器件所能输出的图像亮度。 C=L/P0 式中： P0--------X射线输入剂量率（mrad/s） 。 L--------X射线像增强器的输出亮度(cd/m2)。 5. 视场均匀性C 即亮度均匀性，它表示两个目标之间的亮度相对差异，通常用亮度起伏同平均亮度之比表示，以百分数表示: C=(Bmax-Bmin)/(Bmax+Bmin) 11.4