一种近红外成像测量用光学系统.pdfVIP

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  • 2023-04-09 发布于四川
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本实用新型属于光学技术领域,更具体地,涉及一种近红外成像测量用光学系统。包括用于发射光束的芯片平面、用于对芯片出射光起准直作用的准直光学元件、用于对准直光束起滤波作用、保证芯片上每一点都具有相近的空间分辨率的孔径光阑、用于对准直光起会聚作用的会聚光学元件、以及在相机平面中实现图像获取的探测器;所述的芯片平面、准直光学元件、孔径光阑、会聚光学元件以及探测器依次设置在同一光轴上。本实用新型提供的一种近红外成像测量用光学系统,结构简单,成本低,提供了在近红外1.55μm波段下能够得到满足成像条件的近场

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 215493092 U (45)授权公告日 2022.01.11 (21)申请号 202120605980.3 (22)申请日 2021.03.25 (73)专利权人 中

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