塞曼效应完整版.docVIP

P秦自强 P秦自强 第 第 PAGE #页/共7页 塞曼效应 目录 实验目的 实验原理数据处理思考题 原始数据 实验目的 （回目录 ） 通过观察并拍摄 Hg (546.1nm )谱线在磁场中的分裂情况，测 e 量其裂距并计算荷质比 m 实验原理( 回目录 ) 谱线在磁场中的能级分裂 能级 E 1和 E 2之间的跃迁产生频率为 v 的光， hv E2 E1 在磁场中，若上、下能级都发生分裂，新谱线的频率 v 与能级 的关系为 hv (E2 E2) (E1 E1) (E2 E1) ( E2 E1) hv (M 2g2 M 1g1) BB 分裂后谱线与原谱线的频率差为 v v v (M 2 g v v v (M 2 g2 M 1g1) BB h eh B 代入玻尔磁子 B 4 m ，得到 e v (M 2g2 M1g1 ) B 4m 等式两边同除以 c ，可将式表示为波数差的形式 e (M2g2 M1g1) 4 emcB eB 4 mc ，则 P秦自强 P秦自强 第 第 PAGE #页/共7页 P秦自强 P秦自强 1ii. 分辨本领 1 ii. 分辨本领 第 PAGE #页/共7页 (M 2g2 M1g1)L L 称为洛伦兹单位， L B 46.7m 1 T 1 实验方法 1，因此，干涉极1，所以上式中观察塞曼分裂的方法 一般情况下标准具反射膜间是空气介质， 1，因此，干涉极 1，所以上式中 2dcos K 自由光谱范围 2dcos m 1 (m 1) 2 2 21 则 2 1 m 由于 F-P 标准具中，在大多数情况下， cos 2d m 1 因此 12 2d 22 近似可认为 1 2 12 22 ， 2 则 2d 用波数差表示 2d 定义 为光谱仪的分辨本领，对于F-P标准具，分辨本领KNN 依赖于平板内表面反射膜的反射率R，RN1RK 2d将K与 N 代入得KN 2d 定义 为光谱仪的分辨本领，对于 F-P标准具， 分辨本领 KN N 依赖于平板内表面反射膜的反射率 R， R N 1R K 2d 将K与 N 代入得 KN 2d(1 RR) 测量塞曼分裂谱线波长差的方法 cos 1 2 2sin2 1 22 D2 8f2 代入得 2dcos 2d 1 D 22 K 8f 2 22 D D K 1 2 4f 2 DK2 4fD a b 4f 2K(Db Da) 22 Db2 Da2 22 DK2 1 DK2 K 代入，得波长差 2d12d 2d 1 2d Db Da 22 DK2 1 DK2 波数差 22 Db2 Da2 22 DK2 1 DK2 c） 用塞曼分裂计算荷质比 m 对于正常塞曼效应，分裂的波数差为 eB 4 mc 代入测量波数差公式得 22 e 2 c Db2 Da2 22 m dB DK2 1 DK2 已知 d 和 B，从塞曼分裂的照片测出各环直径， 就可计算 e/m 数据处理 （回目录） 1. 调节光路共轴 调节两个透镜的位置使成像最清晰，并调节 2 ㎜的 F-P 标准具到 最佳分辨状态，即要求两个镀膜面完全平行。此时用眼睛直接观察 F-P标准具，当眼睛上、下、左、右移动时，圆环中心没有吞吐现象。 操作时应注意，由 d=sin θk λ，d 越大级次越高。一次向某方向眼 睛移动时，若吐出圆环，说明该方向上的 d 较大，则应拧紧相应的 螺钉。 用 2mm 的 F-P 标准具观察 Hg546.1nm 谱线的塞曼分裂 π成分振向与磁场平行，σ 成分与磁场垂直。理论上把偏振片调 至铅垂时为 σ成分，水平是为 π成分。 实验时，调至水平时，观察到中间 3 条亮线，说明为 π成分。调 至铅垂时，观察到只剩 6 条亮线，中间 3 条消失。 用 5mm 的 F-P 标准具观察 Hg546.1nm 谱线的塞曼分裂光谱重 叠现象 a) 测量值 I/A 1.20 1.37 1.60 2.23 3.30 B测 /mT 550 630 710 850 1000 b) 理论值 B T m 2d n 46.7 d 4.995mm n 4 3.5 3 2.5 2 B理 /mT 536 612 714 857 1072 c) 误差分析 B测 /mT 550 630 710 850 1000 B理 /mT 536 612 714 857 1072 误差 2.6% 2.9% 0.6% 0.9% 6.7% 在允许的范围内，实验值与理论值基本相符。 产生误差的原因有： i. 裂纹重叠时由于太细密，很难辨认。 ii. 读数仪器精确度不高。 思考题 (回目录 ) 1. 如何鉴别 F-P 标准具的两反射面是否严格平行，如发现