一种芯片stop电流测试的系统及其方法.pdfVIP

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2023-05-08 发布于北京
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一种芯片stop电流测试的系统及其方法.pdf

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本发明揭示了一种芯片stop电流测试的系统，其特征在于：指令灌入模块，用于连接芯片的JTAG口；并且，当芯片进入debug模式后，所述指令灌入模块通过所述JTAG口灌入指令给芯片中的CPU执行；其中，所述系统免除对芯片中flash的利用。本发明极大的减少了测试的时间和综合成本，提高了芯片量产的测试效率。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114428699 A (43)申请公布日 2022.05.03 (21)申请号 202111041440.8 (22)申请日 2021.09.06 (71)申请人上海芯圣电子股份有限公司